Other Parts Discussed in Thread: AM2431, LP-AM243
主题中讨论的其他器件： LP-AM243
XDS110仿真器和 am2431 (在我的定制电路板上)被连接(JTAG 连接引脚：TMS、TCK、TDO、TDI、TRST、 接地)。
"测试连接"后的日志如下所示。
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[开始：德州仪器 XDS110 USB Debug Probe_0]
执行命令：
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatfilename%-RV -o -S 完整性
[结果]
-------- [打印主板配置路径名}-->--------------------
C：\Users\tjdck\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
ccs1240\0\0\BrdBat\testBoard.dat
-------- [打印复位命令软件日志文件]----------
此实用程序已选择100/110/510类产品。
该实用程序将加载适配器'jioxds110.dll'。
库构建日期为2023年6月2日。
库构建时间为"12：47：07"。
库软件包版本为"9.12.0.00150"。
库组件版本为'35.35.35.5.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为"5"(0x00000005)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
-------- [打印重设命令硬件日志文件]----------
通过切换 JTAG TRST 信号可重置扫描路径。
控制器是具有 USB 接口的 XDS110。
从控制器到目标的链路是直接的(无电缆)。
该软件针对 XDS110功能进行了配置。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
-------- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试}-->--------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将只应用一次。
使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。
JTAG IR 完整性扫描测试已成功。
-------- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试-------------------------------------------------------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将只应用一次。
使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。
JTAG DR 完整性扫描测试已成功。
[结束：Texas Instruments XDS110 USB Debug Probe_0]
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如下图所示、CS_DAP_0已连接、但 MAIN_Cortex_R5_0_0未连接。
当尝试与 MAIN_Cortex_R5_0_0连接时、错误日志如下所示。
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MAIN_Cortex_R5_0_0：连接到目标时出错：(错误-6305) PRSC 模块写入路由器寄存器失败。 (仿真软件包9.12.0.00150)
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当我看到几篇多年前在论坛上有类似症状的文章时、
提供了许多超链接、但这些链接无效。
如何解决此问题？
