请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：TMS570LC4357 说明 SCI 模块中不同类型的环回。
我们主要可以使用 SCI 模块执行两种不同类型的环回。
1. 使用 SCIGCR1的第16位环回(环回)
2. 使用 IODFTCTR 寄存器(IODFTENA & LPB ENA)环回
主要区别在于使用第16位 SCIGCR1的环回类似于安全环回。 这意味着、即使 SCI 与其他 SCI 器件连接、也可以在不影响实际通信的情况下完成此回送。
1. 使用 SCIGCR1的第16位进行环回(环回)：
在此环回中、SCITX 内部通过 SCIRX 连接、但外部 SCITX 引脚将处于逻辑高电平、SCIRX 将处于开路阻抗、直到该环回再次禁用。
因此、在该环回测试完成之前、另一端 SCI 器件接收引脚将只读取逻辑高电平。 其他终端设备无法向该设备发送任何数据、因为其 SCIRX 引脚处于高阻抗模式。
使用 IODFTCTR 寄存器(IODFTENA & LPB ENA)环回：
此环回进一步分为两个子环回：
数字环回和模拟环回。
这两个环回 模式之间的主要区别在于、模拟环回模式下可测试通过 I/O 的完整通信路径、而在数字环回模式下、I/O 缓冲器不包括在此路径中。 这意味着在数字环回中、将禁用 I/O 缓冲器、因此不会向输出或 Tx 线路传输数据。 而在模拟环回中、将测试完整路径、因此也可以在 Tx 线路上看到数据、并且此数据会自动环回到 Rx 线路。
建议仅在连接到其他 SCI 器件之前执行此环回。 我的意思是、在通信过程中不鼓励进行此类回送。 因为尤其是 此测试中的模拟环回模式会受到 另一个 器件的影响或也会影响另一个器件。 我的意思是环回测试数据会传递到另一个 SCI 器件、否则环回数据会受其他终端 SCI 器件的影响。
为了更好地理解、我使用不同的组合进行了一些测试、结果如下：
1.仅启用 IODFTCTRL 模拟环回：
正如您在上面的代码中所看到的、我刚刚禁用了 SCIGCR1环回、并且只启用了 IODFTCTRL 模拟环回。
在此测试中、我可以看到 RD 寄存器中的数据、这意味着数据被回送、而且我还在串行终端上接收到数据、这意味着在此模式下 I/O 缓冲区未被禁用。
2. 仅启用 IODFTCTRL 数字环回：
如上面的代码所示、我刚刚禁用了 SCIGCR1环回、而只启用了 IODFTCTRL 数字环回。
在此测试中、我 可以 看到 RD 寄存器中的数据、这意味着数据被回送 、但 我没有在串行终端上接收到任何数据、这意味着 I/O 缓冲区被禁用、回送仅发生在内部。
3. 仅使用 SCIGCR1的第16位进行环回：
如上面的代码所示、我刚刚 启用了 SCIGCR1环回并 禁用了 IODFTCTRL 环回。
在此测试中、我还 可以 看到 RD 寄存器中的数据、这意味着数据被 回送、但我没有在串行终端上收到任何数据、这意味着此回送也发生在内部。 该环回与数字环回之间的主要区别在于、在该环回中、Tx 引脚输出将变为高电平、Rx 引脚将处于开漏状态、这不会发生在数字环回中、在数字环回中、只有 I/O 缓冲器将被禁用。
4、 使用第16位 SCIGCR1和 IODFTCTRL 模拟环回的环回：
正如您在上面的代码中看到 的、我启用了 SCIGCR1环回以及 IODFTCTRL 模拟环回。
在此测试中、我还 可以 看到 RD 寄存器中的数据、这意味着数据被回送 、但 在串行终端上没有接收到任何数据。 这与 SCIGCR1环回的行为类似、因为该环回将在内部连接 Tx 和 Rx 引脚、Tx 引脚将处于高电平、Rx 引脚将处于高阻抗状态。