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[参考译文] AM2632:确定 BIST 中哪个特定测试失败

Guru**** 2529140 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1254509/am2632-determining-which-specific-test-fails-in-bist

器件型号:AM2632

据我所知、内置自检的结果是使用 FSRF 寄存器确定的。 所有位必须包含零、如果任何位被置位的话、它表示一个错误。 API 提供与测试总体结果相关的信息-通过/失败。 但是、我们能否获得有关哪个特定测试失败的信息? 可能每个位都负责单独的测试? 我无法获得有关这方面的信息。 请您提供更多详细信息吗?

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    您好!

    FSRF 寄存器指示测试是通过还是失败。 它不会提供有关哪个存储器发生故障的信息。 每个存储器与 FSRF 寄存器中的一个位没有映射。

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     是否有方法可以确定哪个测试失败、从而将 BIST 设置为失败? 除了检查 FSR 寄存器映射之外?

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    尊敬的 Alex:  

    我将在内部进行检查。 我应该能够在8月16日之前提供反馈、  

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    您好、有任何更新吗?

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    尊敬的 Alex:  

    FSRA 寄存器提供 PBIST 测试失败时的地址。 没有其它机制来确定哪个测试失败。

    此致、
    Vishwanath Reddy.