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[参考译文] AM2634-Q1:闪存 ECC 验证

Guru**** 1744610 points
Other Parts Discussed in Thread: TMDSCNCD263, TMDSHSECDOCK, AM2634
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1376091/am2634-q1-flash-ecc-verification

器件型号:AM2634-Q1
主题中讨论的其他器件:TMDSCNCD263TMDSHSECDOCKAM2634

工具与软件:

大家好、团队成员:

我将使用此 TMDSCNCD263板、这是 IO 扩展器 TMDSHSECDOCK。 以及使用 S25FL128S 外部 QSPI 闪存。

根据 S25FL128S 中的 ECC 功能、可以进行1位错误校正和2位错误检测、因此我想测试该功能。

请指导我在此 TMDSCNCD263 板上测试 ECC 特性

 

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    尊敬的 Swati:

    器件内部闪存和 SRAM 受 ECC (SECDED)保护。 SECDED 不通过 QSPI 覆盖外部闪存。

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    尊敬的 QJ Wang:

    我不使用 MCU (Core) ECC、我想使用 AM2634板上外部 QSPI 的 ECC。

    对此您有什么想法吗?

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    尊敬的 Swati:

    控制卡上的 QSPI 闪存(S25FL128S)支持单位纠错。 您可以通过从 S25FL128S 读取 ECCSR 寄存器来检查 ECC 状态。 当将数据从闪存复制到 SRAM 时、会计算 ECC 并将其编程到 SRAM、而在从 SRAM 读取数据时会检查 ECC。 我认为 ECC 不是通过 QSPI 传输数据时计算和比较的(与闪存中存储的 ECC 进行比较)。