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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1434772/am2632-bsdl-file
工具与软件：
您好！ 我们在网页上提供的 BSDL 文件似乎不正确。 它仅包括145个引脚、而不是324个。
此致、Holger
e2e.ti.com/.../3630.AM263.bsdl
您好、Holger、
该 BSDL 文件在上传至 TI.com 之前已进行签出和验证。 引脚数是 BSDL 文件的预期值。 BSDL 是完整引脚排列的子集、涵盖 LVCMOS 和几个其他 IO。 它不包括电源引脚和接地引脚。 根据器件数据表、器件上有142个 LVCMOS IO、因此在给定该值的情况下、预计为145。
此致、
Ralph Jacobi
尊敬的 Ralph： 封装有324个引脚、其中160个是电源引脚(VCC、GND)、164个引脚是 GPIO。 如前所述、BSDL 文件有145个引脚、但实际 IC 有164个引脚。 例如、BSDL 文件中缺少以下引脚(T10 - ADC2_AIN1、V9 - ADC2_AIN4、V12 - ADC1_AIN3、U11 - ADC1_AIN1、U12 - ADC1_AIN4)。 附加文件中提供了缺失的引脚列表。
e2e.ti.com/.../BoundaryScan_5F00_Verification_5F00_V2100.txt
Holger、您好！
是的、这些引脚不包括在内、因为它们不是 LVCMOS 引脚 、而是 AnalogCIO。 BSDL 不涵盖 AnalogCIO 引脚。
尊敬的 Jacobi： 为什么只能包含 LVCMOS 引脚？ 是否有可能检查所有引脚？ 或者通过另一种方式？
正在努力获取更多详细信息、但初始注释是、BSDL 专注于针对开路和短路测试的逻辑高/低电平测试、而模拟 IO 需要更稳健的调制、这些调制是我们生成的 BSDL 模型未涵盖的。
尊敬的 Jacobi： 好的、请告诉我我们在这里还能做什么。
好的、深入了解整个 BSDL。 执行边界扫描的过程是测试设备的逻辑 I/O 以识别处于不良状态(如永久开路、永久短路等)的网络、而此扫描背后的逻辑全部基于数字 I/O BSDL 期望将数字 I/O 设置为 输入/输出/双向、以便进行二进制测试、确保正常运行。 这涉及根据 VIL/VIH 触发点查找导通和关断信号。
根据 BSDL 标准的定义、非数字 I/O (包括电源和接地) 和模拟 设置为 悬挂机构 显式构建的 I/O 不可用 对于 边界扫描测试。
我可能会好奇、为什么我们没有列出 ADC 引脚以实现完整性并将其标记为所有链接引脚、但这根本不会更改测试过程、因为这些引脚不属于基于 BSDL 的测试用例范围、永远不会对 ADC 引脚进行测试。
尊敬的 Ralph：
当然、使用边界扫描时、只能切换 INOUT 位、IN 位或 OUT 位。 但例如工作文件附加文件 745. 的.bsd TMS320F28388 包含所有 ADC、VCC、GND、…Ω 焊球作为"连杆位"。 (见第180至227行和第412至459行)。
这是他们需要它的示例。
https://www.ti.com/product/TMS320F28388D#design-tools-simulation
https://www.ti.com/lit/zip/sprm745
为什么这两个 BSDL 文件之间存在差异。
e2e.ti.com/.../5810.AM263.bsdl
e2e.ti.com/.../sprm745.bsd
我不是很确定我能得到一个具体的答案,但我会与过去的业主核实历史等 另外答案可能是我不能在公共论坛上披露,所以离线联系我。
