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[参考译文] TMS570LC4357-SCM:从硬件循环通电中启动互联自检(EP 自检)失败

Guru**** 2393725 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1411632/tms570lc4357-ep-initiating-interconnect-self-test-scm-self-test-fails-from-hardware-power-cycle

器件型号:EP

工具与软件:

您好!  

我`m 在  TMS570LC4357-SCM 电路板上开发软件、并尝试运行 EP 自检(根据 TRM 第3.3.2节)。

我将在执行的早期立即运行代码来启动测试、在寄存器被初始化(_coreInitRegisters_和 _coreInitStackPointer_)之后、作为 各种自检序列的一部分、以验证 系统稳定性。
此设置与此问题中提到的设置类似:
TMS570LC4357:SCM 自检问题-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛

我发现了一种奇怪的现象、当我尝试从电路板的电源循环开始时、由于 CPU PP-AXI 总线主控上的挂起事务、自检无法启动。
如果我在 从一个被连接至 HDK 电路板的调试器(Lauterbach Trace32调试器、JLInk 调试器等)发出系统复位指令后、运行自检就成功启动。

但是当我从电源上拔下 HDK、重新插上并将探针重新连接到电路板上时、我在调用堆栈中看到的一切就是我永远被卡在启动自检的循环中(_gotoCPUIdle_())


我想知道是否有其他人有过从硬件重启机器运行此自检的经验、以及是否知道解决方法?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Donald、

    能否与您提到的问题共享您的项目或最简单的项目?

    ——
    谢谢、此致、
    Jagadish。