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[参考译文] TPA3221:原理图审阅

Guru**** 2782445 points

Other Parts Discussed in Thread: TPA3221

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/audio-group/audio/f/audio-forum/1602698/tpa3221-schematic-review

器件型号: TPA3221

尊敬的专家:

客户正在使用 TPA3221、但在进行 10-20 分钟的老化测试后发现故障率很高。   

根据客户的快速万用表测量、故障单位显示引脚 5、6、7、35、39、40 的低阻抗或无限值。  您可以帮助查看原理图吗?

最好的 Rgds

Stanley

TPA3221 schematic.jpg

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    您好:

    只是为了确认、客户在 GND 引脚 5、6、7、OUTM 引脚 35 和 OUTP 引脚 39 和 40 上测量低阻抗或高阻抗? 哪些引脚正在测量什么?  

    在原理图上:
    VDD 应具有更大的电容
    CMUTE 应具有 33nF 接地电容  
    BST 电容应为 33nF
    我建议移除 C224 和 C225

    此致、
    Sydney Northcutt

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    悉尼

    IC 失败:

    引脚 7 和引脚 39、40 为 9M Ω

    引脚 7 和引脚 35 为 450k-14M Ω

    良好的 IC:

    引脚 5、6、7 和引脚 39、40 为 9M-13M Ω

    引脚 5、6、7 和引脚 35 是无限的

    感谢您的评论和建议。 客户的意见反馈如下。   感谢您确认他们的假设是否正确、因为我们仍然不知道他们在老化测试中的故障率为何较高。

    Vdd 应具有更大的电容

    客户用作 LDO 输入、而不是来自单电源。  因此、滤波电容器不应该是问题。

    CMUTE 应具有 33nF 接地电容
     

    客户正在使用 100nF (104)、他们需要更稳定的滤波效果

    BST 电容应为 33nF

    是的、客户现在使用的是 333

    我建议删除 C224 和 C225

    客户认为 C224/C225 有助于通过安全 EMC/EMI 测试、并且输出端增加的滤波电容不太可能直接损坏 IC。

    最好吃的猪

    Stanley

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    您好 Stanley、

    正确我不认为 C224/C225 会导致 IC 损坏。 发生了多少个 IC 上的这种情况? 此外、如何将这些单位定义为故障? 它们是否无法再产生音频输出?

    此致、
    Sydney Northcutt

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    悉尼

    380 pc 中有 8 个出现故障。  客户为 FA 发送了 3pc、并被告知这是由于 EOS 问题。  但是、客户不同意在老化测试 10-20 分钟后出现问题。  您是否有其他见解、根据设计、问题的根本原因可能是什么?   如果需要、我可以申请 PCB 布局以供您审查。

    Stanley

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    您好:

    请愿书期待 EOD 的回应。

    此致、
    Sydney Northcutt

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    您好:

    是的、您也可以共享布局以供审核。  

    您能否分享有关老化测试的详细信息?

    此致、
    Sydney Northcutt

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    悉尼

    请参阅 PCB 布局和老化测试流程、如下所示。  请帮助您回顾。

    客户想知道为什么芯片在经过 10-20 分钟的老化测试并导致 EOS 后会出现故障。

    e2e.ti.com/.../POWER_2600_AMP_A000_V1.5A_A000_TOP.dip.pdfe2e.ti.com/.../POWER_2600_AMP_A000_V1.5A_A000_BOTTOM.dip.pdfe2e.ti.com/.../Aging-Test-Flow.xlsx

    Stanley

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    您好:

    布局看起来不错。 它们有正确的散热器?

    我仍然不清楚这些器件是如何定义为失败的。 音频是否停止播放? 如果设备已关闭并重新打开、是否可以再次播放音频?  

    我认为这些老化测试是在烤箱中完成的。 看来情况并非如此、但如果我错了、请纠正我。 客户是否只是以大音量播放音频、从而导致设备发热? 发生问题时、他们能否探测 FAULT 和 OTW_CLIP 引脚? 此问题是否仅在大容量情况下发生?

    此外、FA 报告 EOS 的来源是什么?

    此致、
    Sydney Northcutt  

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    悉尼

    老化测试不是在恒温室内完成、而是将电路板与货架上的设备相连。  是的、它们有散热器。

    根据产品型号、客户将播放不同的测试音量。  客户发现该故障主要是由高通 8 Ω 电阻负载导致的。  故障客户意味着输出音量远低于预期、他们无法通过上电复位将其恢复。

    FA 报告来自 TI、但客户不相信、因为故障是在老化测试 10-20 分钟后发生的。  因此、他们需要 TI 支持来帮助确定根本原因。  

    我已请求客户探测故障和 OTW_CLIP 引脚、但尚未收到相关依赖项。

    最好的 Rgds

    Stanley

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    您好:

    我明白了。 我认为 OTW_CLIP 引脚和 Fault 可以为我们提供有关这里发生情况的更多方向。  

    故障客户意味着输出量远低于预期、并且在上电复位时无法恢复。

    客户观察到音量较低、但仍有音频输出? 如果他们重启电源、他们根本就不会获得音频、或者他们只会获得较低的音量?  

    此致、
    Sydney Northcutt