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[参考译文] TLV320AIC3106:老化测试

Guru**** 2532120 points
Other Parts Discussed in Thread: TLV320AIC3106

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/audio-group/audio/f/audio-forum/919770/tlv320aic3106-aging-test

器件型号:TLV320AIC3106

大家好、

TLV320AIC3106配置为从模式、MCLK = 12.288MHZ 由外部提供、

关闭 PLL

CLKDIV_ IN 使用 MCLK

TLV320AIC3106 DAC 之后有一个外部 I2S 音频信号输出。

通常情况下、reg11 = 0x01、但在老化一段时间后、寄存器变为 reg11 = 0x31、即左 DAC 溢出标志和右 DAC 溢出标志为1。 DAC 溢出的原因是什么? 起初、它们都是正常的。 老化一段时间后、声音会变得嘈杂。 但是、在客户重新初始化后、背景噪音消失。 然后读取 reg11值、该值与之前相同、reg11 = 0x01

以下是客户的寄存器配置:

祝你一切顺利、

Amy

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    当异常时、软复位3106 (reg1 = 0x80)后、音频正常、reg11 = 0x01也正常。 原因是什么?

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    您好 Amy、

    对延迟答复表示歉意。 当 DAC 输出尝试超过满量程输出时、DAC 溢出标志跳闸。 这就是发生削波的时候。 DAC 满量程输出为2Vrms (不包括增益误差)。  

    是否有任何可能导致 DAC 溢出的音量变化?

    此致、

    Aaron