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器件型号：TPA6211A1 我们已经使用此芯片多年了。 它已在同一电路板上使用。 大约2年前、我们开始在8小时老化期间出现故障。 我们监控电路、以查看是否存在会导致芯片故障的任何毛刺脉冲或异常。 我们找不到任何问题。 我们决定购买另一卷包含5000个器件的器件、这些器件包含不同的生产日期代码、并更换了我们所有生产板上的芯片。 这个问题已经过去了大约2年了、但现在它在使用一批较新的芯片(即较新的生产日期代码)时返回。 两年前、最初的问题是、由于某种未知原因、两个输出引脚在通过欧姆计读取芯片时对地短路。 这一次仅引脚5、VO+短接至地。 芯片封装为 MSOP (DGN)。 在8小时内老化后、我们现在遇到50%的故障。 老化过程会每5秒打开和关闭一次待机引脚、并在输入端引入白噪声信号。 该芯片作为单端输入进行连接。
我们用旧芯片取代了新芯片、即过去两年没有问题的芯片。 在另一个8小时老化后、这些电路在同一电路板上完全正常工作。
问题是、鉴于 TI 其他芯片的生产日期代码较旧、没有任何困难、这种情况可能会导致这种情况发生的原因是什么？ 是否存在批量变化、可能会使较新的芯片超出某些最大容差、从而无法承受其中一个输入引脚上的尖峰？ 两个输出均配有100 uF 陶瓷非 POL 电容器。 在老化过程中、这些引脚连接到一个10欧姆的虚拟负载电阻器。 我知道我们不会使输出过载。 同样、旧日期编码芯片已100%运行2年。
您能想到什么输入异常会导致输出短路、这一次仅导致 VO+、而不是两个输出？ 故障的发生速度如此之快、以至于无法检测到可能影响芯片的因素。
