[参考译文] CC2640R2F：如何检查 SNV 区域是否损坏？

admin

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/bluetooth-group/bluetooth/f/bluetooth-forum/1530795/cc2640r2f-how-to-check-if-the-snv-area-is-broken

器件型号：CC2640R2F

工具/软件：

您好：

我们正在检查我们的产品中不能正常工作的样品。
我们通过转储闪存来进行检查、看看闪存是否损坏、代码区域是正常的。
然而、0x1E000 的前 4 个字节（标头）为 00 00 00 00、0x1D000 的前 4 个字节为 FF FF FF FF FF FF。
我们能否假定 SNV 面积在此基础上被破坏？（在正常样本中，其中一个是 00 00 01 00）

谢谢、

卡尔文

3 个月前

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2381890 points

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您好！

指令 0xcee0 (LDRB) 处的固件发生硬故障的原因可能是寄存器 R6 中的存储器地址无效。根据上述 C 指令、该寄存器应保存ptr变量的值。可能该ptr变量保存无效数据并导致硬故障。

您能告诉我您使用哪些 API 函数来写入 SNV、或者最终使用的代码片段吗？

此致、
Maxence

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2381890 points

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您好、 Maxence、

以下是 r/w 到 SNV 的代码。

uint8_t Flash_ReadSNV(osalSnvId_t id, osalSnvLen_t len, void *pBuf)
{
	uint8_t errCount = 0;
	uint8_t status = FAILURE;
		
	while(errCount < FLASH_MAX_RETRY_COUNT)
	{
		status = osal_snv_read(id, len, pBuf);
		if(status != SUCCESS)
		{
			errCount++;
			Task_sleep(1000); // 10ms
		}
		else
		{
			break;
		}
	}

	return status;
}

uint8_t Flash_WriteSNV(osalSnvId_t id, osalSnvLen_t len, void *pBuf)
{
	uint8_t errCount = 0;
	uint8_t status = FAILURE;
		
	while(errCount < FLASH_MAX_RETRY_COUNT)
	{
		status = osal_snv_write(id, len, pBuf);
		if(status != SUCCESS)
		{
			errCount++;
			Task_sleep(1000); // 10ms
		}
		else
		{
			break;
		}
	}

	return status;

}

我想这个问题是因为在写入 tor SNV 时由于 ESD 或其他原因而复位的。

无论如何、前 4 个字节是 00 00 00 00 是否正常？

谢谢、

卡尔文

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2381890 points

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您好！

我认为闪存页的前 4 个字节没有包含 00 00 00 00。您能否尝试像我们 SDK 的 basic_ble 示例那样刷写已知可正常工作的固件、看看它是否适用于示例器件？您还可以尝试在示例设备和已知工作设备上的“芯片擦除“按钮、然后刷新固件、查看闪存是否不同？

此致、
Maxence

Bluetooth®︎（参考译文帖）

Bluetooth®︎（参考译文帖）(Read Only)

[参考译文] CC2640R2F：如何检查 SNV 区域是否损坏？