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[参考译文] CC2541：如何测量 CC2541的性能是否下降？

admin
Guru**** 2387060 points
Other Parts Discussed in Thread: CC2541
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/bluetooth-group/bluetooth/f/bluetooth-forum/886336/cc2541-how-can-i-measure-if-my-cc2541-has-performance-degradation

器件型号：CC2541

我们有两块包含 CC2541的板、它们最初与外设配对并正常工作、然后在几个月后停止与某些外设配对。  我们在数据表中看到了一条注释、指出 ESD 损坏可能会导致细微的性能下降。  如何证明芯片不再符合数据表中的规格？  所涉及的芯片是一个中心角色。  是否有任何有关如何进行测量的应用手册或白皮书？  对于中央角色器件、这是我的器件上的 TX 问题还是 RX 问题已降级？

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    TI__Guru**** 2387060 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    为此、您需要查看 PHY、这意味着您不想从 BLE 的角度而是从射频性能的角度来看待它。 您主要需要检查输出功率和灵敏度。  

    - 在 http://www.ti.com/lit/an/swra603/swra603.pdf 中查看有关传导测量的建议

    -此外，请查看您是否能够进行 PER 与电平之间的关系测量(对于每个输入功率级别，发送(至少) 100个数据包并记录数据包错误率。) 我们已经看到一些 ESD 在 PER 与电平曲线中产生"空穴"。 这意味着您能够接收除给定范围外的大多数级别的数据包。