主题中讨论的其他部件：CC2640、 CC2630、 CC1350、 CC2620、 CC1310
简介
本文概述了通过使用 CC1310/CC1350或 CC2620/CC2630/CC2640/CC2650器件来设计产品生产测试的可用工具。 它还提供了在这些器件中对闪存进行生产编程的选项。
生产测试的目的是确保组装的 PCB 运行良好并满足成品的性能标准。 它补充了电路板每个组件的生产测试。 它可以手动、自动或两者的组合来完成。 它可以在运行条件下或仅在标称条件下完成。 在所有情况下、基于无线 MCU 的测试产品最常用的方法是从生产测试仪或 PC 与 MCU 接触、并使用具有代表性的功能子集并测量结果。 执行一系列测试、根据结果、产品被视为良好或不好。
MCU 的生产编程是将二进制代码映像传输到闪存的过程。 这可以是最终应用程序映像、也可以是在生产测试期间使用的特殊映像。 最常见的选项是使用商业生产编程器件、引导加载程序的串行桥接器或 JTAG 仿真器。
生产测试
除了引脚连接和功耗等标准 MCU 测试外、无线 MCU 还应包括测试、以确保组件具有良好的射频性能。 务必确保正确安装晶体、平衡-非平衡变压器组件、匹配组件和天线并使其处于允许的容差范围内。
根据质量要求和目标监管和标准规范、对这些参数的测试应至少包括以下内容：
- 接近目标敏感度级别的信号的射频数据包接收
- 测量传输的射频信号(输出功率、频率)
此外、在接收和发送操作期间测试电流消耗也会揭示出故障组件。
测试设置
CC13xx 和 CC26xx 器件具有三个可用于生产测试的接口：
- C-JTAG 或 JTAG
- 串行接口(UART 或 SPI)
- 射频接口
可以设计一个测试设置、每个测试设置不需要射频测试设备。 相反、用户可以使用校准/补偿黄金单元射频单元。 最常见的选择是使用与 DUT (被测器件)具有相同无线 MCU 的 TI 评估模块、或能够在目标射频频率和调制上进行通信的类似器件。
黄金单元和 DUT 都通过 JTAG 仿真器从 PC 进行控制。 测量电源或类似器件由同一台 PC 控制、并为 DUT 供电并允许测量电流消耗。 有关支持的仿真器列表、请参阅[CC13xx_CC26xx_Tools_Overview#Debugers 此页面]。
PC 端软件可以是 SmartRF Studio。
CC13xx/CC26xx 不支持 SmartRFStudio 的脚本编写、但提供了 C++库以将 SmartRF Studio 功能集成到自动测试程序中。 它提供了一个用于控制 DUT 和黄金单元的强大接口。
编译应用程序示例的先决条件。
- Microsoft Visual Studio C++ 2013 Express
- 在"Visual Studio 下载"下选择"Visual Studio 2013->Express 2013 for Desktop"
- 计算机上安装了 Qt 5.5.0
- 在 SmartRF Studio 页面的"软件"部分下："Qt 5.5.0 Windows 源代码和库(MSVC2013)"
示例项目将位于此处：C：\Texas Instruments\RadioTestLibrary-1.x.x\IDE\windows\vc12\radio_test_lib_app_ex\radio_test_lib_app_ex.sln
替代方案
对于受测的低功耗蓝牙器件、另一种方法是将通过 UART 的[PTM 生产测试模式(PTM)]与具有蓝牙智能/低功耗扩展的商用蓝牙测试仪结合使用。
生产编程
CC13xx 和 CC26xx 提供两个用于生产闪存编程的接口：
- C-JTAG/JTAG
- 串行引导加载程序(UART 或 SPI)
通过 JTAG 进行编程
建议将 XDS110/XDS200与 SmartRF 闪存编程器2 PC 工具结合使用。 此工具包括一个命令行界面(CLI)、可轻松集成到生产程序中。
商业生产编程器可以显著提高编程速度。 Elprotronic Flash Pro ARM 支持 CC13xx 和 CC26xx、还提供兼容的插座板。
通过串行引导加载程序进行编程
CC13xx 和 CC26xx 在 ROM 中具有内置引导加载程序、支持通过简单协议通过专用引脚进行通信。 它还具有用于 I/O 后门的功能、即使闪存中已存在有效映像、也可以触发引导加载程序。 技术 参考手册的第9章介绍了引导加载程序。 它受 FlashProgramr2支持、可在 SmartRF06EB 上运行。
要禁用闪存内容的现场读取、请记住在发货前禁用器件 CCFG 配置区域中的引导加载程序。
