CC2540闪存页面损坏
所有到0x7F00的数据被擦除(复位为0xFF)。
BLE 具有1.4.x 堆栈。
是否找到了此解决方案?
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Sanjay、
我很抱歉我的答复延迟了。
感谢您提交报告。 我知道这是一个棘手的问题、但您知道问题发生的相关情况吗?
例如、
我拥有的唯一相关信息是有关此版本自述文件中与 NV 内存相关的"已知问题/限制"的注释。 它指出:"因此、建议谨慎使用 NV 存储器、或者仅在连接未激活时使用。"
鉴于此、您能告诉...
由于该问题可能与 NV 劣化算法有关、您能否判断这些故障装置是否已在现场存在很长时间?
在任何情况下、我都会与我们的开发团队联系以调查此问题。
期待收到您的回复。
谢谢、
Luis
谢谢 Luis
添加更多信息;闪存存储器(256K)上的代码被擦除。 主要 是第一页上的 BIM 被完全擦除(FF)。 应用程序代码 仅使用 116 182字节 的代码存储 器(+ 10 794范围填充)
我必须使用 CC 调试器在每个器件上重新刷写整个映像(BIM +应用程序)。 我尝试过不同 的测试(如下所示)、但无法重现问题。 我现在注意到的闪存损坏与 去年同期的一些器件相同。
-在极端温度 (> 40摄氏度)下测试了重新刷写的器件
-使用了可变电源(3.6V),然后将其降低至1.5V (测试欠压),并在经过一段时间间隔后恢复至3.6V
-重复无线更新相同的蓝牙映像
是的、应用使用 NV 存储器、但连接不频繁。
Sanjay、
与团队讨论后、我发现我们没有在 TI 参考硬件上观察到这种情况。 我们过去在某些客户电路板上看到过此问题。 在这些情况下、此问题可由多种原因引起、例如布局不当(即不遵循 TI 参考设计)、尤其是在时钟和接地路径周围、ESD 保护不足、电源不足或软件错误(例如应用 C 栈溢出)。 鉴于您只在少数电路板上看到此问题、我建议您先查看硬件布局和 ESD 测试结果。 此外、TI 还可帮助您查看硬件设计。 如果您有兴趣、请通过以下链接提交 TT。 https://www.ti.com/tool/SIMPLELINK-2-4GHZ-DESIGN-REVIEWS
谢谢、
Luis