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[参考译文] CC2540:闪存存储器损坏

Guru**** 2529560 points
Other Parts Discussed in Thread: CC2540

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/bluetooth-group/bluetooth/f/bluetooth-forum/948027/cc2540-flash-memory-corruption

器件型号:CC2540

CC2540闪存页面损坏

 所有到0x7F00的数据被擦除(复位为0xFF)。

BLE 具有1.4.x 堆栈。

此问题之前已报告过。 https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/bluetooth/f/538/t/532630?CC2540-Flash-Page-Corruption

是否找到了此解决方案?

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    您好、Sanjay、

    我已指派一位专家进行评论。 您是否可以尝试在1.5.x 版本的堆栈上重现此问题?

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    谢谢 Ammar!

    我目前在 1.4.x 上重现问题、但5个以上客户退回的器件肯定会出现这种情况。  该器件支持无线更新、但我没有发现任何问题。 当我刷写新的 BLE 映像后、BLE 模块将按预期工作。

    我也可以尝试在1.5.x 上重现此问题。

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    Sanjay、

    我很抱歉我的答复延迟了。

    感谢您提交报告。 我知道这是一个棘手的问题、但您知道问题发生的相关情况吗?

    例如、

    • 执行无线更新时是否出现问题?
    • 还是在下电上电期间?
    • 还是只是从蓝色中取出?
    • 任何信息都是有价值的

    我拥有的唯一相关信息是有关此版本自述文件中与 NV 内存相关的"已知问题/限制"的注释。 它指出:"因此、建议谨慎使用 NV 存储器、或者仅在连接未激活时使用。"

    鉴于此、您能告诉...

    • 如果应用程序大量使用 NV 存储器? 或者、
    • ...如果在连接处于活动状态时使用它?  

    由于该问题可能与 NV 劣化算法有关、您能否判断这些故障装置是否已在现场存在很长时间?

    在任何情况下、我都会与我们的开发团队联系以调查此问题。  

    期待收到您的回复。

    谢谢、

    Luis

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    谢谢 Luis

    添加更多信息;闪存存储器(256K)上的代码被擦除。 主要 是第一页上的 BIM 被完全擦除(FF)。 应用程序代码 仅使用 116 182字节 的代码存储 器(+ 10 794范围填充)

     我必须使用 CC 调试器在每个器件上重新刷写整个映像(BIM +应用程序)。 我尝试过不同 的测试(如下所示)、但无法重现问题。 我现在注意到的闪存损坏与 去年同期的一些器件相同。

    -在极端温度 (> 40摄氏度)下测试了重新刷写的器件

    -使用了可变电源(3.6V),然后将其降低至1.5V (测试欠压),并在经过一段时间间隔后恢复至3.6V

    -重复无线更新相同的蓝牙映像

    是的、应用使用 NV 存储器、但连接不频繁。

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    Sanjay、

    感谢您提供所有详细信息。 我将向我们的开发团队报告此问题、以调查此问题。

    我可能会向您提出更多问题。

    -Luis

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    Sanjay、

    与团队讨论后、我发现我们没有在 TI 参考硬件上观察到这种情况。 我们过去在某些客户电路板上看到过此问题。 在这些情况下、此问题可由多种原因引起、例如布局不当(即不遵循 TI 参考设计)、尤其是在时钟和接地路径周围、ESD 保护不足、电源不足或软件错误(例如应用 C 栈溢出)。 鉴于您只在少数电路板上看到此问题、我建议您先查看硬件布局和 ESD 测试结果。 此外、TI 还可帮助您查看硬件设计。 如果您有兴趣、请通过以下链接提交 TT。  https://www.ti.com/tool/SIMPLELINK-2-4GHZ-DESIGN-REVIEWS

    谢谢、

    Luis