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器件型号：CC2640 主题中讨论的其他器件： CC2590
您好！
我正在研发使用 CC2640、CC2590和板载芯片天线的传感器器件。 我们将研究几种不同的制造过程中测试射频的方法；从基本的"我们能否进行通信"到使用外部测试仪(Anritsu、Litepoint 等)的完整 DTM。 大多数人在制造过程中是如何做到这一点的？ 卷将每周约为1k、因此我们更喜欢进行 Gang 测试(一次10次)、就像对固件进行编程一样。 外部测试仪可能相当昂贵、是否有任何中间步进？
谢谢、
Derek
