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[参考译文] LMX2820:相位噪声数据问题和使用 EVM 的连续锁定测试

Guru**** 2422790 points
Other Parts Discussed in Thread: LMX2820

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/943721/lmx2820-phase-noise-data-question-and-continuous-lock-test-with-evm

器件型号:LMX2820

大家好、团队、

我的客户对 LMX2820有以下问题。 请支持回答这些问题吗?

  1. 您能否分享11GHz 左右的实际相位噪声数据? 如数据表中的图3 (6GHz)。
  2. -236dBc/Hz、因为在电气特性表中指定了 Pn_PLL_Flat 的典型值。 您能告诉我测量条件吗? 还是 Pn_PLL_Flat 是否依赖于 f_PD?
    1.  将图3的 PhaseNoise 中的 Pn_PLL_Flat 反相计算得出-233dBc/Hz。 因此、客户希望了解差异是由于测量条件或 f_pd 依赖性(电气表中为 f_PD=100MHz、而图3中为 f_PD=200MHz)。 如果有办法提高3dB、客户希望实施。
  3. 使用 EVM 和 TICS Pro 是否可以通过任何方式执行锁测试的连续测试?

此致、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    大家好、Takeo-San、

    在根据测量值计算 PLL_FOM 时、PLL_FOM 确实依赖于相位检测器频率(FPD)。

    PLL_FOM 随着 FPD 的增加而减少10 x log (FPD)。

    PLL_FLLAT = PLL_FOM + 20×log (Fvco/FPD)+ 10×log (FPD / 1Hz)

    PLL_FOM = PLL_FLLAT - 20×log (Fvco/FPD)- 10×log (FPD / 1Hz)

    这可能会导致3dBc/Hz 的性能差异。  

    10 x (log 200 - log 100)= 3

    遗憾的是、我没有合适的设备来进行11GHz PN 测量。

    您能详细说明一下"锁测试的连续测试"是什么意思吗? 我不确定我是否理解这意味着什么。

    如果您正在寻找一种监控器件并查看器件是否随时间推移而丢失锁定的方法、则可以选择使用示波器监控 LD 引脚。 该引脚在器件锁定时保持高电平。 或者、您也可以监控 Rb_LD (R74[15:14])以查看器件是否失锁。

    谢谢、

    Vibhu

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    Vibhu-San、您好!

    感谢您的评论。

    我知道 PLL_FOM 依赖于相位检测器频率、3dB 的差异来自 FPD 差异。

    >您能否详细说明一下"锁测试的连续测试"是什么意思? 我不确定我是否理解这意味着什么。

    客户希望通过执行大量校准(如数十万次校准)来确认 LMX2820是否会100%锁定。

    他们想知道 EVM 和 GUI 是否支持此类自动锁定检测测试。 有没有好的方法?

    >不幸的是,我没有合适的设备来进行11GHz PN 测量。

    我将与您脱机联系。

    此致、

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    Vibhu-San、您好!

    是否有使用 EVM 和 TICSPro 的自动测试方法? 例如加载列出寄存器值和一些等待信息等的文本文件。

    此致、

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    e2e.ti.com/.../0044.TICSPro-Automation-Example.xlsmTaketo-san

    TICSPro 可通过 LabVIEW 或 Excel 实现自动化。  我有一份有关使用 LabVIEW (我不支持它)的文档、还有一份我创建的 Excel 工作表、可用于调用 TICSPro。  这些工具可以很好地了解如何实现 TICSPro 的自动化。

    此致、
    Dean