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[参考译文] LMX2572LP：用于验证相位噪声性能的测试配置

admin
Guru**** 2770885 points

Other Parts Discussed in Thread: LMX2572LP

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/1430902/lmx2572lp-test-configuration-for-validating-phase-noise-performance

器件型号：LMX2572LP

工具与软件：

我刚刚构建了一个测试板来测试 LMX2572LP。 我已经能够启动和运行芯片、并以我预期的频率获得输出。 我想通过尝试重新创建 LMX2572LP 数据表中的图9、通过相位噪声测量来验证芯片和电路板的性能。  

执行这些相位噪声测量时、是否有相关的测试设置相关的应用手册或白皮书？ 具体来说、在测量之前是否滤除了谐波？ LMX2572LP 开发板似乎没有任何谐波抑制滤波。  

感谢您的帮助！

-詹姆斯

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    TI__Guru**** 2770885 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 James：

    有关测试设置、请参阅 EVM 用户指南。

    https://www.ti.com/tool/LMX2572LPEVM

    相位噪声测量不需要去除谐波、测试设备会自动选择要分析的最强信号。

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    TI__Guru**** 2770885 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    所以 EVM 用户指南中演示的测试是否就是为生成数据表中的图9而执行的确切测试？

    目前不清楚 EVM 中到底使用了什么测试设备。 我假设它是专用的相位噪声分析器？ 所有相位噪声分析仪是否仅查看最强的信号？  

    对于为何在相位噪声测量之前不需要移除谐波、有没有简单的解释？ 根据我对于此测试是如何完成的、存在的谐波与可能存在的任何杂散都存在类似的问题、并且会对相位噪声产生类似的影响。  


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    TI__Guru**** 2770885 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 James：

    是的、我们使用相位噪声分析器进行测量。  

    我们的产品涵盖从几 MHz 到>20GHz 的频率、无法使用滤波器。  

    有关测试设备的问题、请咨询设备供应商。