主题中讨论的其他部件：DAC3283，
您好，
在14位双DAC模式(显然是单时钟)下运行的IOtest模式检查器存在一些问题。
COFFIG4结果寄存器似乎是'tuck' at 0x3FFFF。 同步针脚(针脚6和7)在清除之间持续显示LVDS逻辑'0'
读，我不能将此寄存器更改为零。 我也不能清除CONFIIG5报警位3和4！
我已将时钟速度减慢至62MHz，并对DATA_CLK和DAC_CLK时钟级别和稳定性充满信心。 我确信，当我发送同步脉冲时，
它到达具有正确LVDS电平的器件引脚，并且只存在一个脉冲。
我正在使用的流程如下：
0)设备配置为syncrx_ena，synconly_ena和无sifsync_ena，在单时钟全总线，双DAC模式下运行。 注意：我可以获得波形
通过器件并显示在两个DAC上看起来都正确的输出上(只是希望能够证明开机时没有计时问题)。
1)配置1：位15 (iotest_ENA)设置为'1'以启用测试过程。 (此模式是否停止输出？)
2) CONFIIG4，将所有零写入清除iotest_results寄存器
3) CONFIIG5，写入所有零以清除报警寄存器
4)发送IOTEST序列。 我发送的顺序与DAC3283数据表(8.4 ............................................7“数据模式检查器”)中所示的顺序(图34)完全相同。
我之所以提到这一点，是因为DAC3174数据表中没有明确的说明。
5)读取CONFIIG5和CONFIIG4以评估错误。 相关报警寄存器位3，4中的'1'表示故障，位通道中的'1'表示故障
CONFIG4，以指示哪个位通道出现故障。
6)在此过程后，寄存器转储如下所示：
CONFIIG0：42
配置1：e04e.
CONFIIG2：3fff.
CONFIIG3：0000
CONFIIG4：3fff.
CONFIIG5：0018
CONFIIG6：2f00
CONFIIG7：FFFF
CONFIIG8：6000
CONFIIG9：8000
CONFIIG10：f080
CONFIIG11：1111
CONFIIG12：3a7a
CONFIIG13：36b6.
CONFIIG14：2aea
CONFIIG15：0545
CONFIIG16：0585
CONFIIG17：0949
CONFIIG18：1515
CONFIIG19：3aba.
CONFIIG20：0000
CONFIIG21：FFFF
CONFIIG22：2d04.
CONFIIG23：a3c4.
CONFIIG24：c9a8.
CONFIIG25：87ff
CONFIIG127： 0049
因为我永远不能清除报警或结果寄存器，所以我无法判断是否有问题！
我注意到DAC3283数据表中有一个有趣的陈述：
"建议启用模式检查器，然后运行模式序列100个或更多完整周期
在清除iotest_results(7:0)和alarm_fin_iotest之前。
这将消除在设置过程中产生错误警报的可能性"
这是相同/类似的问题吗？ 在清除结果和报警寄存器之前，我尝试将SYNC +图案写入设备101次，以防万一，
无可用。
CONFIIG4表10寄存器字段描述："这些位的值可判断输入字中的哪个位在IO测试模式比较期间失败。
[13:7]匹配来自端口A的7位，[6:0]匹配来自端口B的位。" 这没有对14位全字界面中的操作进行任何描述
模式，但假设它按图25中的建议工作。 您能否确认IOTEST在此模式下工作？
此致，
Chris Burton
