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[参考译文] DAC3174:IO测试模式

Guru**** 2519830 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/646553/dac3174-io-test-pattern

部件号:DAC3174

您好,

当我运行IO测试模式时,我应该会在寄存器0x04处看到结果。

在数据表中,解释为:

"这些位的值可判断输入字中的哪个位在IO测试模式比较过程中失败。 [13:7]匹配来自端口A的7位,[6:0]匹配来自端口B的位。"

如何排序?

是每个端口的7位MSB吗?

还是每个端口的7位LSB?

还是端口A的7位MSB和端口B的7位LSB?

还是端口A的7位LSB和端口B的7位MSB?

此致,

跑了

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    您好,Ran,
    我已将您的问题发送给一位能够提供帮助的工程师。
    此致,
    Brian
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    您好,Ran,

    位[13:7]对应于通道A,这意味着如果线路DA[6]上的LVDS数据有错误,将断言寄存器0x04上的位13。 如果LVDS数据线DA[5]位12在寄存器中存在错误,则会声明0x04,依此类推。 同样,如果在寄存器0x04中的DB[6]数据线位6上存在错误,则将声明此类错误,依此类推。

    此致,
    Neeraj
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    好的,谢谢!