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[参考译文] ADS131E08:在32kSPS时无法采样信号

Guru**** 2524550 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS131E08, ADS131E08EVM-PDK

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/663951/ads131e08-unable-to-sample-signal-at-32ksps

部件号:ADS131E08

您好,

我有一个采用ADS131E08的定制板。  

当输出数据速率为1kSPS至16kSPS时,我可以正常接收测试信号。 作为测试信号,我使用的是ADS131E08提供的内部测试信号,但也使用信号发生器生成的外部信号。 但是,当我将输出数据速率设置为32kSPS时,ADS131E08中的样本不再与测试信号对应,无论测试信号是内部还是外部信号。  

通过读取config1寄存器,我可以看到位2:0是001,对应于所需的32kSPS输出数据速率。 SPI频率为10.5 MHz,应满足数据表中公式9确定的要求。 对于1kSPS到16kSPS的输出数据速率,回读长度为216位,而对于32kSPS,则更改为152位。 当输出数据速率更改为32kSPS时,是否还应更改其它内容?

我无法在 ADS131E08EVM-PDK上尝试32kSPS输出数据速率,因为其固件不支持此速率。 我想知道EVM固件不支持32kSPS和64kSPS速率的具体原因是什么?

提前感谢!

Sasa   

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    您好,Sasa,

    感谢您的帖子!

    您能否通过范围或逻辑分析器确认SPI事务不会与下一个示例重叠? 在RDATC模式中,每次完成转换时,输出移位寄存器都会用新数据更新。 虽然SCLK的速度足够快,但如果在读取以前的转换时完成了新的转换,您仍然可以看到损坏的数据。

    检查SPI事务的中间是否出现/DRDY下降边缘。

    此致,
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    您好,Ryan:

    感谢您的回答!

    你说得对,我的SPI事务与下一个示例重叠。 根据计算,SCLK足够快,但当传输一个字节(在8个SCLK之后)时有暂停,我不知道。 因此,在完成新的转换之前,无法完成对上次转换的读取。

    但是,我提高了SPI频率,现在我能够获得内部测试信号和低频率外部信号的正确数据。 我的目标是对频率为10 kHz的信号进行采样。 当我尝试使用32 kSPS输出数据速率对该信号进行采样时,得到的值不正确。 根据10 kHz信号的Nyquist采样标准,最小采样速率为20 kSPS。

    但您的看法是什么?我能在32 kHz时使用ADS131E08采样10 kHz信号吗? 您是否执行了一些测试,使用ADS131E08可以采样的最大频率是多少?

    我还生成了与这一个相同的信号,频率为10 kHz,频率为500 Hz。 此500 Hz信号可以无问题地重建,但有时信号会显著衰减。 输入通道上的EMI滤波器是否会造成此衰减?

    此致,
    Sasa

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    您好Sasa,

    很高兴你发现了SPI问题!

    您对Nyquist采样标准的回答正确。 但是,这只是为了表示输入信号频率内容。 请记住,即使数据速率为32kSPS,在10kHz输入的每个周期(3到4之间)中也不会有太多的采样。 这很可能不足以准确地表示信号振幅,除非样品恰好与正弦波峰成一条直线出现。 一般来说,您需要采样大于输入信号频率的2倍。

    此致,

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    您好Ryan:

    首先很抱歉我对你的最后一篇帖子的回复太晚了!

    再次感谢您的回答! 根据我的知识,你是对的,一个不讲的规则是,为了准确地代表信号幅度,在自波起的每个周期需要大约10个样本。

    此致,
    Sasa