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[参考译文] ADS4129:ADC正在读取负周期采样

Guru**** 2390735 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS4129
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/598639/ads4129-adc-is-reading-bogus-periodic-sample

部件号:ADS4129

您好,

我们在其中一个设计中使用ADS4129。 我们有一个FPGA,可从ADS4129读取DDR LVDS串行数据。 我们正在尝试定期修复假样品。 该屏幕截图显示了Excel工作表上的图形,其中ADC输入处的输入信号为1MHz和250mV pp。 采样时钟为250MHz。

如果您有调试此问题的建议,这将对我们非常有帮助。 我还附上了csv格式的读取数据。 我想知道这可能是硬件设计问题还是PCB布局问题造成的。

e2e.ti.com/.../ADS4129_5F00_ADC_5F00_Capture.7z

谢谢!

Saril Kaiprath

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    Saril,

    确保将高性能模式1设置为“1”,将高性能模式2设置为“0”。 是否已尝试调整以下寄存器以查看是否有帮助:

    1.LVDS摆动

    2.LVDS CLKOUT强度

    LVDS数据强度

    4. CLKOUT上升/下降时间延迟

    从ADC发送测试图案时是否会遇到此问题?

    发送您的示意图和布局,我们可以查看。

    此致,

    Jim

     

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    Jim,

    谢谢。 我尝试了其中的大部分 设置。 我将使用您 提到的高性能模式1和2进行测试。  以下是一些观察结果。

    1.与P相比,N输入的DC偏移较高,可以解决此问题。 但这似乎也只是用于输入偏移的窄边距。 假设P点的直流偏移约为900mV,N输入约为1.1V。 我正在测试不同的输入偏移,这是意外的。 在此处附加了另一个捕获。

    2.所有一个和所有0的测试图案都是干净的。 但是,噪声样本可通过斜坡输入来观察。

    请检查捕获并告诉我您的意见。

    谢谢!

    Saril

    e2e.ti.com/.../ADS4129_5F00_capture_5F00_issues.zip

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    Saril,

    我认为这可能是FPGA的定时问题。 尝试以较低的采样速率采集数据,以查看是否可以纠正此问题。

    此致,

    Jim

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    Jim,

    谢谢。 让我尝试将采样时钟更改为125MHz并进行测试。 将让您了解结果。

    谢谢!

    Saril

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    您好,Jim:

    这是为了让您知道并关闭此请求,即该问题与FPGA DDR采样有关。 FPGA人员能够调整参考时钟并与数据窗口对齐以解决此计时问题。 非常感谢您的及时支持。

    谢谢!
    Saril
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    Saril,

    感谢您的反馈。

    此致,

    Jim