[参考译文] ADS1262：未保存INPMUX寄存器

您好，Hal，

只是为了澄清，寄存器“分组”只是将该组中的寄存器更新延迟到您在执行多寄存器写入时完成对该组中所有寄存器的写入之后。 原因是如果您要增加PGA增益并同时切换MUX通道，否则，如果Mode2寄存器在INPMUX寄存器之前更新，您可能会暂时超出PGA范围。 而是对这些寄存器进行分组，以便在您完成了对两个寄存器的数据计时后，按顺序(在多寄存器写入命令期间)写入这两个寄存器才会生效。 但是，如果一次只写入一个寄存器，则寄存器将在完成WREG命令后立即更新，这可能是您所期望的。

因此，此问题与分组无关。

在DIN和SCLK信号上有很多过冲，我可以说是在0.5V和1V之间。 您是否能够完全清除此信号？ 我不确定您是否会在如此嘈杂的输入中获得非常好的结果。

您可以尝试启用CRC，然后在启用CRC的情况下回读读取的值。 这可以帮助您根据发送到ADC的内容以及ADC返回的数据确定正在进行的操作。

此外，这是否发生在任何其他寄存器上？ 您说这似乎对接口寄存器起作用，尽管这只是读回默认值(读回INPMUX寄存器时就是这种情况)。 您是否可以在向其它寄存器写入数据之前和之后测试这些寄存器以查看发生了什么情况？

-Bryan

您好，Bryan，感谢您的支持。

实际上，这是C2000上SPI的问题，而不是ADS1262。 由于某种原因，我第一次在SPI上写入/读取时没有发生任何事情。

现在，我只需要在第一次执行虚拟写入/读取。 然后，我可以看到我写入和读取的所有消息都正常。

现在，我使用ADS1262进行了更多的挖掘，并且在读取过程中遇到了一些峰值。

我配置寄存器的方式与我将REF mux设置为 RMUXP_INTP和 RMUXP_INTN，然后使用 MUXN_AVSS读取MUXP_AVDD的示例基本相同：

//setSTART(1);
    /*********DUMMY READ********/
    ADS126xSendResetCommand(); // dummy stuff to set the SPI

    //LoadInitRegSettings();

    //ADS126xReadRegister(POWER, 1, resultData);
    /**************************/

    //MODE0 (CHOP OFF)
    config[0] = (AdcRegData[MODE0] & DELAY_MASK);
    ADS126xWriteRegister(MODE0, 1, config);

    //MODE2 (BYPASS OFF, GAIN = 1 V/V, )
    config[0] = 0x04;//(AdcRegData[MODE2] & DR_MASK);
    ADS126xWriteRegister(MODE2, 1, config);

    //Reset OFCAL coefficients
    config[0] = 0x00;
    ADS126xWriteRegister(OFCAL2, 1, config);     //OFCAL2 = 0x00
    config[0] = 0x00;
    ADS126xWriteRegister(OFCAL1, 1, config);     //OFCAL1 = 0x00
    config[0] = 0x00;
    ADS126xWriteRegister(OFCAL0, 1, config);     //OFCAL0 = 0x00

    //Reset FSCAL coefficients
    config[0] = 0x40;
    ADS126xWriteRegister(FSCAL2, 1, config);     //FSCAL2 = 0x40
    config[0] = 0x00;
    ADS126xWriteRegister(FSCAL1, 1, config);     //FSCAL1 = 0x00
    config[0] = 0x00;
    ADS126xWriteRegister(FSCAL0, 1, config);     //FSCAL0 = 0x00

    //INPMUX (AINP = AIN0, AINN = AIN3)
    config[0] = MUXP_AVDD | MUXN_AVSS;
    ADS126xWriteRegister(INPMUX, 1, config);

    //REFMUX
    config[0] = RMUXP_INTP | RMUXN_INTN;
    ADS126xWriteRegister(REFMUX, 1, config);

    config[0] = STATUS|CRC_OFF; //0x04
    ADS126xWriteRegister(INTERFACE, 1, config);

    while(1){

        set_adc_START(1);
        DEVICE_DELAY_US(500);
//        result = ADS126xReadData(5, 1);
        result = ADS126xReadData(5, 1);
        VoltageReading = (double) result * IntRefVolt / ((double) Gain * exp2(29)); //2^29 to account for 1/4 supply & 1/2 FSR
        SupplyRefVolt = VoltageReading;
        ReadingmV = (int)(SupplyRefVolt*1000);

        if ((SupplyRefVolt>6.0))
        {
            GPIO_togglePin(LED_31);  //LED OFF
        }
    }

我用数字万用表读取AVDD并测量5.125V (+/- 1uV)，相当稳定。

现在，如果在调试模式下，我看一下SupplyRefVolt，结果是5.1258V，但我也有峰值。

我也可以在SPI上看到这些峰值。

第一个问题，在我的示例中，数据速率默认为20SPS，当我以1.6KHz读取寄存器时会发生什么情况？ 在写入新值之前(每50毫秒)，我应该会读取相同的值。

第二个问题，当数据良好时，状态字节为0x41，我测量5.125V。 当我看到这些峰值时，状态字节是垃圾：

状态字节I接收：0x86，0x46，0xA3，0x14，0xB1

我觉得我收到了不应该接收的内容，但在配置过程 中，我确保禁用CRC并启用状态。

我的配置有什么问题吗？

谢谢你

您好，Hal，

您如何知道何时可以从ADC检索数据？ 我看不到任何对监控DRDY的函数的调用。 您是否正在检索状态字节以了解新数据何时可用？

如果使用直接读取数据模式，则发送附加SCLK将持续检索ADC输出移位寄存器中的任何数据。 此数据不应在转换期间之间更改，仅应在每个转换期间完成后更改。 因此，如果在同一转换期间多次读取数据，每次读取的结果应该完全相同。

正如您在前面的示波器捕获中所指出的，您的数字信号上似乎有大量噪音。 我不确定这是否是您所看到的问题的原因，但这肯定是应该解决的问题。 我还建议使用逻辑分析器来查看数据输出，以便更好地了解ADC实际提供的内容。 您提到您之前的问题与C2000操作有关，因此这些新问题肯定也可能是处理器的结果。

-Bryan

您好，Bryan：

我补充说

while(GPIO_readPin(ADS_DRDY_74)); //wait fopr DRDY to go low

在阅读数据寄存器之前，现在非常感谢

我 现在很困惑 ，我如何能够使用2.5V内部电压参考读取AVDD (5V)的电压 通常 在增益=1且参考mux =内部2.5V的情况下，全刻度范围是+/-2.5V，但我能够读取我的5.12V电源：

        set_adc_START(0);
        DEVICE_DELAY_US(100);
        config[0] = MUXP_AVDD | MUXN_AVSS;
        ADS126xWriteRegister(INPMUX, 1, config);
        config[0] = RMUXP_INTP | RMUXN_INTN;
        ADS126xWriteRegister(REFMUX, 1, config);
        config[0] = 0x09;//(AdcRegData[MODE2] & DR_MASK);
        ADS126xWriteRegister(MODE2, 1, config);
        set_adc_START(1);
        result4 = ADS126xReadData(5, 1);

除此之外，我按以下方式连接了测压元件：

使用内部参考电压2.5V读取AIN1和AIN2，以获得更大的范围：

        set_adc_START(0);
        DEVICE_DELAY_US(100);
        config[0] = MUXP_AIN1 | MUXN_AIN2;
        ADS126xWriteRegister(INPMUX, 1, config);
        //config[0] = RMUXP_AIN0 | RMUXN_AIN3;
        config[0] = RMUXP_INTP | RMUXN_INTN;
        ADS126xWriteRegister(REFMUX, 1, config);
        config[0] = 0x59;//(AdcRegData[MODE2] & DR_MASK);
        ADS126xWriteRegister(MODE2, 1, config);
        set_adc_START(1);
        while(GPIO_readPin(ADS_DRDY_74)); //wait fopr DRDY to go low
        result = ADS126xReadData(5, 1);

信号噪音很大，约 (450万-3500000)350万)= 100万计数：

对于 负载单元的整个范围(压缩+张力)，我有大约 1.6亿个计数。 这会产生 大约(450万-3500000)*100/160000000= <xmt-block0>350万 0.625 %1.6亿 0.625 % 噪声。

将Vref从INTERNAL (内部参考)更改为AIN0 (AIN0)和AIN3 (AIN3)会产生几乎相同的结果：

大约 (220万-1700000)170万)= 50万次噪声， 负载 传感器的全范围(压缩+张力)我有大约800万次计数，相同的比例信号/噪声。

因此，根据我的理解，我应该继续使用内部Vref，至少我有更多的分辨率。 您是否对实现更好的阅读有任何想法？ 我已尽最大努力完成了布局，并遵循了设计指南。

在我的主板上，负载单元的激励来自为主板其余部分AVDD=DVDD供电的切换DC/DC 5V。 该信号具有噪声，并与SPI (约430mV Vp-p)结合使用，您认为具有低噪声LDO 5V会提高我可以获得的性能吗？

我计划使用专用的超低噪声LDO (LT3045)：

之后，我想在 ADS1206上连接3个测压元件。 它们将具有相同的激励和 参考，您是否认为有任何问题？
e2e.ti.com/.../ADS1262.pdf

请注意，如果我想在将来实施交流激励，我将安装UCC2.7524万DR驱动程序。

最后一个问题， 对时钟，内部振荡器，外部时钟 或外部晶体的选择有何影响。  我在数据表中找不到添加外部晶体的合理性。 什么是增益，更好的性能？

谢谢你

非常感谢您帮助Bryan。

它们是否会并行连接，然后在此处使用单独的差分ADC模拟输入测量每个桥的差分输出？ 我看不出来有任何问题。

是的，它们是：  

我将查看 桥接测量指南和 TPS7A94，以便稍后实施，但现在似乎已经缺货了。