请告诉我如何进行正确的测量、因为使用内部电压的测量结果与预期结果不同。
我已经创建了一个配置来测量 AIN5和 AIN6的差分电压。
在已经被验证为正确的外部基准测量中、用于 AIN5和 AIN6差分测量的 ADC 读数为0xCA724 (-22748)。
使用了以下电压转换公式
VOUT _ext=-22748[值]*(((100[IMAG uA]* 2 * 0.001)* 5000[Vref mV]/ 16[PGA])/ 8388608:0x00800000[分辨率]=-0.169485[mV]
或 Vout_ext =-22748[值]*(1000[Vref mV]/ 16[PGA])/ 8388608:0x00800000[分辨率]=-0.169485[mV]
另一方面、使用内部基准的 AIN5和 AIN6差分测量的 ADC 读数值为0xCA259 (-23975)。 这几乎与外部基准值的 ADC 读数相同。
使用了以下电压转换公式
VOUT_IN=-0.365829[mV]=-23975[值]*(2048[Vref mV]/16[PGA])/ 8388608:0x00800000[分辨率])
我认为这是一个奇怪的结果、因为每 LSB 的权重是2.048倍、所以 ADC 读数应该是2.048倍。
此外、转换为电压后、值应几乎相同。
您能告诉我为什么会出现这种情况吗?
我不确定原因是什么、但内部基准模式似乎未启用。
是因为我们使用了错误的寄存器设置还是系统配置?
以下是使用外部 REF 进行测量时的设置
使用 www.DeepL.com/Translator 翻译(免费版)

使用内部 REF 进行测量的设置如下

下图显示了 ADS1248和测量电阻器的系统配置。




