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器件型号：ADS8363 主题中讨论的其他器件： OPA2365
你(们)好
我的电路如下、R233 是 NTC 热敏电阻、 -10℃R233是275.8K Ω、 25℃R233是50k Ω、 70℃R233是8.663K Ω。
当我℃ADS8363 SAMPLE ADC_TEM 时、当℃温度低于25 ̊ C 时、ADC 结果大于预期值、当温度低于0 ̊ C 时、ADC 结果更差。
使用示波器进行测试、发现 ADC_TEM 在采样时有毛刺脉冲、采样间隔为6us。 不正确的 ADC 结果与毛刺匹配、我猜毛刺是由 ADS8363内部采样保持电容器 Cs 引起的、当温度降低、ADC_TEM 电压降低时、Cs 将通过 RSW、Rser、R233放电、然后导致 ADC_TEM 更大。
我有一些问题需要您的帮助：
1.错误的 ADC 结果是由 CS 预充电引起的？
2. ADS8363模拟输入是否需要运算放大器来降低源阻抗？
3.在数据表第19页中描述："转换完成后、两个电容器在一个时钟周期内都预充电至 REFIOx 引脚上的电压。 预充电后、多路复用器输出再次连接到采样电容器。" 例如、如果 ADC_TEM 连续采样256次、CS 将预充电256次？ 是否可以修改寄存器配置、以便在连续采样期间只需对 CS 进行一次预充电？
4. CS 和 RSW 之间的切换是如何控制的？ 当 进行连续采样时、开关始终可以闭合？
希望你能回答，非常感谢！！！
