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[参考译文] ADC32RF45:在 JESD 数据中放置子 ADC 样本

Guru**** 688030 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1025814/adc32rf45-sub-adc-sample-placement-within-jesd-data

器件型号:ADC32RF45

我在 LMFS=82820模式下运行器件、JESD 数据到达时与规格表15中所示完全相同。  正常运行的确定性延迟是否能保证四个子 ADC 中的每个 ADC 的样本(我不知道此处的正确术语)在每次加电后始终以相同的方式在 JESD 帧内对齐?

在我的硬件上、我认为情况并非如此、因为我有一个杂散校正算法、要求我在每个功率周期后移动系数(或样本)。  这些系数最初是在假设子 ADC 对齐始终相同的情况下创建的。

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    您好、Shawn、

    我正在与我们的设计团队就此进行核实。 我想、每次加电时订单都是一致的、但希望我们的设计团队予以确认、以便 为您验证。 请等待我们的答复。

    此致

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    您好、Shawn、

    我已验证每次加电时样本排列顺序是否一致。 请参阅下面的示例排列:

    • A0/A4/A8/A12/A16属于 ADC0
    • A1/A5/A9/A13/A17属于 ADC1
    • A2/A6/A10/A14/A18属于 ADC2
    • A3/A7/A11/A15/A19属于 ADC3

    其中 ADC0、ADC1、ADC2和 ADC3是4个内部交错 ADC。

    此致

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    谢谢。  在初始化过程中是否有任何可能导致此情况的事情?

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    您好、Shawn、

    我们的设计团队已经表示、初始化过程中的任何事情都不会导致这种情况发生变化。 每次采样安排都是一致的。

    此致