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[参考译文] ADS114S08:ADS114S08多 RTD 测量误差

Guru**** 2386620 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS114S08
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/968124/ads114s08-ads114s08-multiple-rtds-measurement-error

器件型号:ADS114S08

尊敬的 Bob:

祝您新年快乐! 希望你们做得好。

目前、我们使用 ADS114S08测量温度、并面临 RTD 温度传感器的问题。 下面我为您提供了相同的详细描述。

根据《RTD 测量基本指南》应用手册、我们使用两线制 RTD、低侧基准测量电路和具有一个 IDAC 的三线制 RTD 低侧基准测量电路进行温度测量。

对于前三线 RTD 测量寄存器配置、如下所示:

寄存器详细信息

十六进制数据

寄存器01

0x00

第02号法规

0x12

寄存器03

0xEA

寄存器04

0x9C

条例05

0x12

第06号法规

0x07

寄存器07

0xF0

第08号法规

0x00

第09号法规

0x10

寄存器详细信息

十六进制数据

寄存器01

0x00

第02号法规

0x28

寄存器03

0xEA

寄存器04

0x9C

条例05

0x12

第06号法规

0x07

寄存器07

0xF0

第08号法规

0x00

第09号法规

0x10

三线 RTD 端子(A-B-b)、A 连接到 AIN1、B 连接到 AIN2、b 连接到 AIN8。

对于第二个三线制 RTD 测量寄存器配置、如下所示:

寄存器详细信息

十六进制数据

寄存器01

0x00

第02号法规

0x34

寄存器03

0xEA

寄存器04

0x9C

条例05

0x12

第06号法规

0x07

寄存器07

0xF0

第08号法规

0x00

第09号法规

0x10

寄存器详细信息

十六进制数据

寄存器01

0x00

第02号法规

0x49

寄存器03

0xEA

寄存器04

0x9C

条例05

0x12

第06号法规

0x07

寄存器07

0xF0

第08号法规

0x00

第09号法规

0x10

三线 RTD 端子(A-B-b)、A 连接到 AIN3、B 连接到 AIN4、b 连接到 AIN9。

正如您在配置寄存器组中看到的、我们使用1mA 激励电流源来驱动两个 RTD 通道。 根据我们的知识、我们不能同时将1mA 电流源传递给两个 RTD 通道、因此我们将晶体管用作开关网络。 因此、一次只有一个 RTD 通道从拉电流引脚获得1mA 的电流。

我们的程序序列如下所示、

1) 1)     启动 SPI 模块

2) 2)     配置 ADS114S08

3)     3)等待 Vref 稳定

4) 4)     发送 START 命令以开始转换

5) 5)     开启晶体管1以进行 RTD1测量

6)     为 RTD1测量1 (AIN1-AIN2之间的电压读数)和2 (AIN2-AIN8之间的电压读数)后、关闭晶体管1

7) 7)     开启晶体管2以进行 RTD2测量

8)     8)在为 RTD2进行测量1 (AIN3-AIN4之间的电压读数)和2 (AIN4-AIN9之间的电压读数)后、关闭晶体管2

9)     9)重复步骤5至步骤8

在这里、我们使用1.5k 欧姆精密电阻器作为基准电阻器。 两个 RTD 感应侧都连接到同一参考网络。

让我们更新一下、这种使用 RTD 在多个 AIN 输入上检查温度是否正确? 如果不正确、请提供一些电路信息、以帮助我们使用相同的 IC 测量4线制 RTD 的温度。 我们只是检查2个 RTD 作为试验基地。 但我们的最终应用是仅使用4nos RTD 测量温度。

如果您需要更多详细信息、请告知我们。

等待提示响应。

谢谢、此致、

Jehan Patel

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Jehan、

    我没有任何关于您所期望的内容和您看到的结果的特定数据或信息。  根据配置设置、我认为这可能是模拟稳定问题。  当您更改输入通道时、您是在每个配置中写入寄存器0x01到0x09、还是仅更改所需的多路复用器?  我建议只写入正在更改的寄存器。

    我还建议查看一个通道、以确定是否存在趋稳或噪声问题。  如果您只连续测量一个输入通道、数据是否总是相同?  或者、在测量系列开始时、您是否在结果中看到趋稳行为?   

    我看到、在您的寄存器设置中、您在多路复用器更改为最小值后更改了内置延迟时间。  如果布线发生任何变化、并且信号路径中存在电容、则必须确保延迟足够长、以便模拟路径稳定。  例如、在事件序列中、您需要等待内部基准稳定(3)、然后发出启动转换的 Start 命令(4)、然后开启晶体管(5)。  这意味着您在没有有效基准的情况下启动转换、然后应用电流。

    关断 Q1和导通 Q2时、也会有一些路径延迟。  在电流路径完全稳定之前、转换不应开始。

    此致、

    Bob B

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Bob B、您好!

    感谢您的快速回复。

    1)     “当您更改输入通道时,是在每个配置中写入寄存器0x01到0x09,还是只更改所需的多路复用器? 我建议只写入正在更改的寄存 器”-正如我们在前面的注释中提到的,我们必须使用4个 RTD 测量温度。 根据数据表第页编号 66 (9.5.3.12)、写入寄存器0x02到0x07和0x09将启动新的转换。 因此、我们每次都要配置 ADS114S08。

    当我们尝试仅更改模拟输入 MUX 设置时、对于第二次测量、我们将输入 MUX 更改为 AIN2和 AIN8。 通过持续开启晶体管 Q1并遵循测量结果、实际温度为68.8˚C、ADS114S08为77.8˚C

    2)     "我还建议查看一个通道以确定是否存在稳定问题或噪声问题。 如果您只连续测量一个输入通道、数据是否总是相同? 或者在测量系列开始时,您是否在结果中看到稳定行为?” –根据您的建议,我们通过不断地打开晶体管 Q1尝试使用单通道,测量结果如下,实际温度为68.8˚C,ADS114S08显示67.7至68˚C 在这里、对于第二次测量、我们再次配置了所有寄存器 ADS114S08。 如果我们仅更改多路复用器值、则会显示上述错误结果。

    3)     "我看到在您的寄存器设置中,您在多路复用器更改为最小值后更改了内置延迟时间。 如果布线发生任何变化、并且信号路径中存在电容、则必须确保延迟足够长、以便模拟路径稳定。 例如、在事件序列中、您需要等待内部基准稳定(3)、然后发出启动转换的 Start 命令(4)、然后开启晶体管(5)。 这意味着您在没有有效基准的情况下开始转换,然后应用电流。”-感谢您指出我们所犯的错误,现在我们在打开晶体管后应用了 START 命令。 但是、当我们在进行测量1和2后关闭晶体管时。 再次打开晶体管、它将显示86.9˚C、但实际温度为68.8˚C 根据 ADS114S08页码的数据表 REFOUT 和 REFCOM 之间的34 (9.3.3.1) 10uF 电容器需要4.9ms 的延迟。 没有这种延迟、我们就无法获得预期的任何结果。 那么、让我们更新一下、是否需要在 stare 命令之前延迟?

    我们希望将4三线 RTD 连接到 ADS114S08、并为每个 RTD 切换1mA 激励电流。 因此、如果有任何基准电路、建议我们使用。

     请查看以下代码序列、让我们更新是否需要任何修改。

     -      打开晶体管

    -         配置 IC 的所有寄存器进行 AIN1-AIN2测量

    -4.9         毫秒延迟

    -         启动命令

    -         RDATA 命令

    -         配置 IC 的所有寄存器以进行 AIN2-AIN8测量

    -4.9         毫秒延迟

    -         启动命令

    -         RDATA 命令

    -         关闭晶体管

    谢谢、此致、

    Jehan Patel

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Jehan、

    的确、如果一个转换正在进行中、通过写入特定寄存器、转换将重新开始。  不过、如果内容发生变化、我建议您只对寄存器进行写入。  例如、如果只有多路复用器发生更改、则无需写入所有寄存器。

    我对您如何进行测量感到困惑。  每个 RTD 测量都需要2次测量。  一个用于测量 RTD、另一个用于测量引线电阻。  您如何进行此计算?  您能否为我提供两次测量中每一次返回的代码、而不是为我提供温度转换值?

    我很难理解为什么需要写入所有寄存器来获得正确的结果、因为唯一改变的是测量通道。  写入所有寄存器时、所有不同的是转换开始被延迟。  您能给我一个更详细的原理图吗?  您是否使用了任何模拟输入滤波器?

    对于 REFOUT/REFCOM 的延迟、这只适用于初始启动、因为这仅适用于用于引用 IDAC 的内部基准。  这只需在开始时完成。  所需的任何进一步延迟将取决于切换通道时 RTD 基准的基准趋稳。

    我还应该提到的一点是、使用 start 命令。  如果先前已发出 START 命令、则除非前面有 STOP 命令、否则将忽略任何其他 START 命令。  因此、要实际重新启动转换、您需要先发送 STOP 命令、然后发送 START 命令。

    此致、

    Bob B

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Bob b:

    1) 1)"我对您如何进行测量感到困惑。 每个 RTD 测量都需要2次测量。 一个用于测量 RTD、另一个用于测量引线电阻。 您如何进行此计算? 而不是提供温度转换值,您是否可以为我提供两个测量值中的每一个返回的代码?” –在测量1:0x2C74至0x2C94和测量2:0x156时、您需要以下测量值。

    RTD 的最终值= Rref *[(测量1–测量2)/(32767 * PGA 增益)]

    kΩ、Rref = 1.5k Ω 且 PGA 增益= 4

    2)“您是否使用任何模拟输入滤波器?” –是的、µF 在模拟输入侧使用模拟输入滤波器、滤波器电阻为470 Ω、共模滤波器使用0.01 μ F 电容器、差模滤波器使用1µF μ F 电容器。 有关更多详细信息、请查找随附的文件。

     

    3) "对于 REFOUT/REFCOM 的延迟、这只适用于初始启动、因为这仅适用于用于引用 IDAC 的内部基准。 这只需在开始时完成。 所需的任何进一步延迟将取决于切换通道时 RTD 基准的基准趋稳。” –这里我们使用的是表18中的延迟、ADS114S08第46页的数据表(9.3.6.5)中提供了该表的延迟、用于所选数据速率。 表18中提到的延迟值是必需的或不需要的。 在 START 命令之后或 START 命令之前应用的延迟?

    4) "我还应该提到的一点是使用 start 命令。 如果先前已发出 START 命令、则除非前面有 STOP 命令、否则将忽略任何其他 START 命令。 因此,要实际重新启动转换,您需要先发送 STOP 命令,然后再发送 START 命令。” –我们通过在 START 命令之后应用 STOP 命令来尝试您的解决方案,当晶体管 Q1始终处于打开状态时,结果没有变化。 Q1晶体管在测量1和测量2时处于打开状态、但在不需要测量时仍保持关闭状态、但我们仍未获得正确的结果。

    当我们尝试打开晶体管 Q1晶体管进行测量1和2时、当不需要测量时、晶体管关闭时。 转换结果如下、测量值1:0x3020至0x3077、测量值2:0x1A9至0x1AB。

     kΩ 基准电阻值:1.5k Ω

    谢谢、此致、

    Jehan Patel

    e2e.ti.com/.../4ch-RTD.pdf

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    您好、Jehan、

    原理图显示的电容器比我预期的要多得多。  所有这些电容器是否都在电路中?

    即使使用您提到的值、也会有相当大的模拟稳定。  您需要考虑所涉及电路的每个部分的所有电阻和电容。  仅为参考、您需要考虑 RTD 的完整路径以及输入滤波。  用于模拟稳定的时间常数数量基于实现1/2 LSB 的确定性、对于一个16位器件、这个值大约为11.78。

    因此计算电路每一部分(差分输入为2*R*C)的时间常数(R*C),最大部分计算稳定所需的时间。  对于1uF 电容器和两个470欧姆电阻器、时间常数为940us、对于完全稳定、时间常数为940us * 11.78 (11.1ms)。

    此致、

    Bob B

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    尊敬的 Bob:

    感谢您提供相关信息。

    您能否向我们解释一下我们如何计算电路所需的确切延迟?

    请向我们提供一些数据表或参考手册或链接、以更好地理解。

    因为 ADS114S08数据表中没有提到这一点。

    请帮助我们构建具有各种保护电路实现的4线制3线 RTD 电路。

    我们根据您的应用手册之一构建了该电路。 但只有热电偶保护电路可用、我们也在寻找 RTD 网络。

    我们通过以下链接来实现保护电路。

      

    我们可以根据您的建议修改我们的电路。 我们需要更短的对话延迟时间、并具有全面保护电路和出色的精度、能够在任何嘈杂环境下进行有效的测试。

    谢谢、此致、

    Jehan Patel

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    您好、Jehan、

    我了解您的情况、但不能由我(或 TI)决定如何设计您的电路。  我们提供了一些参考设计、但大多数情况下、客户设计在某种程度上是独特的。

    作为一个完全不同的例子、假设我想要最快的汽车、最舒适的驾乘体验、它可以穿越任何地形、以最低的每加仑英里成本运行。  举例来说、我可以看到有很多不同的汽车制造商可以为我的设计建制、但最终我必须做出一些决策、并且更具体地说明我的设计标准。

    作为设计的一部分、某些标准在设计过程中变得非常重要。  这将包括您需要测量全部四个 RTD 的速率。  作为此设计的一部分、您还需要指定所需的噪声滤波级别。  ADS114S08具有与 PGA 增益相关的噪声表、可帮助确定噪声目标。  但您还需要确定外部源所需的噪声滤波程度。

    添加 TVS 二极管等保护器件也会直接影响您的设计。  TVS 二极管的额定功率和钳位电压还将决定保护 ADC 输入所需的要求和电流限制。

    我强烈建议根据 《RTD 测量基本指南》以及有关 ADC 噪声和 EOS 的 TI 高精度实验室中的信息来明确定义您的系统。  确定具体设计和工作参数后、我们可以更深入地了解降低模拟稳定延迟的要求。  作为此过程的一部分、我需要一个更清晰的原理图来说明您打算安装的器件以及 ADC 输入路径中器件的 BOM。

    此致、

    Bob B