我们使用项目中转换的 ADS8584S A/D 与 STM32F401 MCU 进行模拟测量-原理图设计随附
在我们的应用中、ADC 配置为在并行模式、+/-10V 动态范围、10V 内部基准电压、0和4之间过采样
一般来说、ADC 以稳定的方式工作、不会丢失代码
我们有几个操作问题、如下所述:
1.繁忙信号—严重问题
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我们使用阈值(MCU 中断模式)来检测转换开始、然后从 A/D 读取数据
BUSY 信号的高电平大约为1.7V、接近 MCU 输入阈值
为了提高阈值电压、我们尝试在20-3K 之间添加上拉电阻器、但 BUSY 信号的高电平不会改变、并且保持~1.7V
请建议如何增加此信号电压
2.电压计算-关键
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计算值与提供的已知电压之间存在大约20%的偏差
例如:
- 提供的597V 测量值为17、450、即5.325V
- 提供-2.597V 电压、测量值为-6、483、这意味着-1.978V
偏差略为非线性
请解释如何从数字值计算模拟数据以获得精确值
3. ADC 输入环路转换-关键
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在每次测量之间以10uec 的延迟循环运行 ADC 转换、会使前10-15个读数与其余数据不同。 10秒的延迟以及再次运行循环中的转换会再次导致大约10-15个无效的首次读数。 数据显示在随附的图形上
请解释如何解决