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[参考译文] DAC3174:对 DAC3174进行编程并将其作为独立 IC 进行测试

Guru**** 2511985 points
Other Parts Discussed in Thread: DAC3174

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/993769/dac3174-programming-dac3174-and-testing-it-as-a-standalone-ic

器件型号:DAC3174

您好!

我们在电路板中使用 DAC3174、其中其输入数据来自 FPGA。  我想独立测试 DAC、以解决与 DAC 相关的设计或代码问题。 以下是我为内部寄存器设置的值:

050000

0046 ED

01FE0E

030008.

0cFFFF

15007F

我遵循了手册中建议的初始化步骤。 如果您能就 以下问题提供一些意见、我将非常感谢:

  • 对于 IO 测试、是否应对所有8个寄存器(12-19)进行编程?
  • 我在 outAp 和 outAn 测量的电压为300mV、在执行 SPI 接口的代码后、我看到跳转、然后缓慢下降。 我想知道您是否可以提供有关此问题可能的根本原因的一些反馈?

  • 无论在0c 中编程的数据如何、执行代码后 DAC 输出跳转的电压都是恒定的。 换句话说、对于0cFFFF 和0c0001、跳转为~500mV。

如果您能提供一些反馈、我将非常感谢。

此致、

Nasim

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Nasim、

    我很难遵循您的格式。 我相信您会说以下内容、但您能确认这一点吗?

    0x05  0x0000

    0x00  0x46ED

    0x01  0xFE0E

    0x03  0x0008

    0x0C 0xFFFF

    0x15  0x007F

    对于 IO 测试、是否应对所有8个寄存器(12-19)进行编程? 不需要、复位时已根据数据表中的值对其进行编程。

    您是否检查了示波器上的 SCLK 和数据线?

    请分享您的原理图。

    此致、Chase