您好!
在我们的项目中、我们使用 ADC3424器件以40MSPS 的2线模式采样。
我们使用执行反序列化并对数据进行位移处理的 FPGA 采集数据。
我们使用帧时钟 FCLK 作为位滑动过程的参考。
在一些情况下、我们观察到通道和 FCLK 上的数据未对齐。
FPGA 与 FCLK 正确对齐、但数据具有3至5位的误差偏移。
此外、当发生这种情况时、ADC 的每个通道的误差都不同。
例如:通道 A 的误差为3位、通道 B 的误差为5位
在 ADC 的错误状态下使用测试模式时、我们观察到另一个问题。
即使在一个通道的两个通道之间也似乎存在位错误-例如:da0有3位错误、DA1有4位错误。
这是预期行为吗? 我认为测试模式是自由运行的、我不确定通道中的通道在此模式下是否对齐。
根据时序图(数据表中的图130)、数据应与帧时钟对齐。
数据表中提到的唯一可变传播延迟是 t_PDI、它适用于将输入时钟传播到 FCLK。
我假设数据时钟 DCLK 和 FCLK 应该一直对齐、因为它们来自同一个 PLL。
您能为我提供有关时钟和数据通道之间时序的更多信息吗? 它们之间是否可能没有确定性关系?
对齐 FCLK 时钟是否是有效选项、或者我们是否应该考虑改用测试图形进行对齐?
我们尝试通过复位引脚和软件复位来复位 ADC、但这并没有改变任何东西。 只有对电路板进行电源循环才有用。
谢谢你。
此致、
Jakub