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[参考译文] ADC3421:测试图形

Guru**** 2390430 points
Other Parts Discussed in Thread: ADC3421
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/898064/adc3421-test-patterns

器件型号:ADC3421

您好!

我正在使用单个串行链路(每个输出1个)将 ADC3421连接到我的 FPGA。  ADC 以25MSPS 运行、从所有不同的测试模式中获取正确的输出时遇到了一些问题。  我发现正弦输出的输出与数据表中所述的输出不同(如果您绘制正弦曲线、则看起来仍然像正弦曲线)、并且斜坡函数需要4个样本以递增1个值。  您是否能够向我发送一份包含这两种测试模式的结果值的串行输出的捕获?  我发现静态值似乎正常工作(例如在0x555和0xAAA 之间交替)。

谢谢

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    Daniel:

    我们将对此进行研究。

    此致、

    Jim

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    Daniel、您好!

    对于斜坡、这些值是否从0增加到4095? 对于正弦波、您看到了什么值?

    由于目前的工作限制、可能很难提供您请求的测试模式结果。

    此致、

    Dan

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    斜坡输出每4个样本递增1 lsb -下面是一个示例(无符号十进制):1143、1143、1143、1143、1144、1144、1144、1144、1144、1144、1144、1145…… (模式继续)

    对于正弦波、我得到以下值(无符号十进制):1384、978、0、3117、0、978 (重复模式)

    我在25MHz (器件最大值)和12.5MHz 两种采样速度下验证了这一点。 以排除我的 FPGA 设计中的任何时序问题。  ADC 输出的接口为1线模式(不确定是否相关)。  当我使用自定义图形模式时、数据始终正确输出。

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    Daniel、您好!

    每第4个采样发生一次斜坡测试模式变化、这是测试模式本身的一个问题。 遗憾的是、我们没有解决此问题的方法。

    此外、我认为数据表中的8点正弦波值不正确。 下面是使用正弦波测试模式捕获的一些数据。

    e2e.ti.com/.../ADC3424-Test-Pattern.pptx

    在我对 ADC3421EVM 进行验证后、这些项目将在下一个数据表修订版中进行更正。

    此致、

    Dan

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    Dan、您好!

    感谢您的更新。  数据表中没有显示的另一件事是 FCLKP 和 FCLKM 信号的设置和保持时间。  我使用了 ADC 数据引脚的值、但不确定是否正确。

    谢谢

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    Daniel、您好!

    是的、请使用用于数据信号的设置和保持时间。

    此致、

    Dan