我们在冷却的 CMOS 摄像头中使用该器件。 在室温下、深色图像的直方图看起来像它应该是的正确高斯曲线。 当我们冷却传感器和 ADC 时、黑图像直方图开始显示缺失的代码、八个计数分开、并在相邻计数中显示相应的额外代码。 结果是图像中的噪声增加、其可见度为较亮的像素。 有些器件比其他器件更糟糕、但在-20°C 以上的温度下、几乎一半的故障发生。 有什么想法吗？
感谢您的理解。
我们使用的是64引脚 LQFP 封装。 我们每个传感器使用两个。
在20C、0C、-10C 和-20C 时、每个器件的一个通道上都有直方图。 我还有一个在-20°C 时出现故障的 ADC 通道的直方图、该直方图是从相距几秒的两个图像中减去的。 该直方图是正常的、表明器件中的螺钉至少是一致的。
您将注意到、到0C、两个器件虽然不能准确生成平滑的直方图并显示一些问题、但显然不会将相邻代码合并为一个代码。
好器件不会出现这种情况、但在-10°C 时、坏器件会将三个代码合并为一个代码、正确的代码和接下来的两个代码每16个计数合并一次。
这是我们第一次看到器件在16次计数时执行此操作、我们之前看到的所有不良器件(可能是10个器件)在8次计数时都显示了此行为。
器件#1 (良好的 ADC)@+20C
以上缩放部分：
器件#2 (坏器件)、位于+20C
上方缩放
器件#1 (良好器件)@ 0C
上方缩放
器件#2 (不良器件)@ 0C
上方缩放
器件#1 (良好器件)@-10C
上方缩放
器件#2 (不良器件)@-10C
上方缩放
器件#1 (良好器件)@-20C
上方缩放
器件#2 (不良器件)@-20C
上方缩放
最后是器件# 2 (坏器件)@-20C。 两个图像相隔几秒钟、然后 从第一个图像中减去第二个图像。 这是差异的直方图。
