[参考译文] THS1206M：测试模式下的 THS1206M 校准。

admin

Other Parts Discussed in Thread: THS1206

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/906309/ths1206m-ths1206m-calibration-in-test-mode

器件型号：THS1206M
主题中讨论的其他器件：THS1206

THS1206具有一个由控制寄存器0的位8和位9控制的测试输入使能。似乎可以进入这种模式并获得 ADC 输入电压范围的极端值以及中点的转换。使用适当的固件/软件、可以在加电时进入此模式并执行某种自我校准、其中这些读数的结果存储在外部存储器中、稍后用于处理器内的所有后续计算。

我的问题是、这样做有哪些缺点？例如、进入和离开此模式是否需要很长时间？它是否需要循环通电才能离开测试模式？进入测试模式是否有任何副作用？

非常感谢。

Mark Khusid

设计开发工程师

Moog 公司

4 年多前

0 admin 4 年多前

TI__Guru**** 1142300 points

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

Mark、您好！

加电后进入测试模式(假设基准已稳定)不会有问题、您当然可以将其用作校准方案。退出测试模式后、您可以将所需的值写入配置寄存器、并照常继续。无副作用、无需对器件进行下电上电。

在正常运行期间运行测试模式会导致您与 DATA_AV 信号失去同步、因此您至少应该复位 FIFO 或者简单地重新写入两个配置寄存器并返回正常运行。

0 admin 4 年多前

TI__Guru**** 1142300 points

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

Tom、

那么、在数据表的表4中、当它在校准后声明偏移误差和增益误差时、这是在使用 ADC 的测试模式进行校准之后吗？未校准的偏移和增益误差是多少？单端模式下的校准与差分模式下的校准有何区别？是否有任何有关如何执行校准的书面说明？在数据表的第27页、它讨论了控制寄存器1位8。控制该位的正确方法是什么？是否可以设置偏移寄存器？

非常感谢。

Mark Khusid

开发设计工程师

Moog 公司

0 admin 4 年多前

TI__Guru**** 1142300 points

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

Mark、您好！

CR1中的位8有一点不同。偏移 CAL 基本上会将输入接地短路并进行转换、因此它与内部测试模式不完全相同。在单端或差分模式下、理想情况下、此转换的结果为零。无论结果如何、都可以将其内部存储到 THS1206中、并添加/减去后续转换结果。不能访问内部偏移校准寄存器、遗憾的是、校准前、我没有准备好访问表明偏移可能是多少的数据。

在 CR1中设置位8后、需要将其清除。最简单的方法是向两个配置寄存器写入终端应用所需的值。

数据转换器（参考译文帖）

数据转换器（参考译文帖）(Read Only)

[参考译文] THS1206M：测试模式下的 THS1206M 校准。