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https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/911863/ads1256-oversampling-interval
您好！
这并不是专门针对 ADS1256的、而是一个一般的 ADC 问题：
当针对更高的分辨率进行过采样时、在两个采样之间保持完全相同的间隔有多重要？
此致
Niclas
您好、Niclas、
ADS1256等 Δ-Σ ADC 会根据数据表规格自动对输入进行过采样、因此您无需手动进行过采样。
如果您想在 MCU 中执行额外的过采样、这也是可能的。 只要您满足 ADC 数据表中的时序规格、采样之间的时间间隔就不应影响太大。 通常、对于过采样、您会尝试非常快地采集大量样本、因此采样率通常很重要、尤其是对于随时间变化而迅速的交流信号。 对于缓慢移动的直流信号、例如温度、这一点不太重要。
布莱恩
您好、Bryan、
感谢您的回答。 现在我明白、我应该提出一个稍微不同的问题：
我正在将基于 ADS1256的旧应用转换为现代 MCU、这意味着大量新代码和重写代码。 新应用仍基于 ADS1256。 这项工作的一部分是了解之前的编程人员做了什么以及原因。
似乎始终使用1000个样本/秒(SPS)的采样率(DRATE 0xA1)。 在校准期间、对20或80次后续测量进行平均值计算。 我最初的问题实际上是尝试了解后续测量值是否应以相同的间隔进行分离。 从你的回答来看，答案是"不是真的"。
现在、我想知道、ADS1256以50SPS 运行一次、与以1000SPS 运行它20倍(平均值)相比、它是如何的。 这两种方法是否应该提供大致相同的分辨率？ (如果我理解正确、这也是一个频率响应、缓冲器输入阻抗以及 ADC1256产生测量结果所需的时间问题、这对于其余应用可能很重要。)
一般而言、我建议在命令或命令组之间使用公共间距-我的观点是、这并不是绝对必要的。 我看到一些工程师使用随机间隔、这使得读取数据和调试变得更具挑战性。 但是、只要满足时序要求、它仍然有效。
Δ-Σ ADC 使用一种称为噪声整形的技术、通过将器件转换为更高的频率来提高器件的噪声性能、然后由数字滤波器移除。 过采样会将噪声降低平均值数量的平方根、但不会受益于噪声整形技术。 如果您看看表1中的噪声、G = 1、ODR = 50SPS 时为629nVRMS、G = 1、1000SPS 时为2、931。 由于您可以预期噪声将平均值数量的平方根减少、因此您可以预期噪声将减少√20 = 4.47。 因此、您的噪声理论上可以降低到2、931 / 4.47 = 656nVRMS、这仍然高于 ADC 噪声。
如果您的系统能够以较低的速率输出数据、让 ADC 执行此功能可能更有意义。 如果在取平均值之前对数据应用了一些操作、例如删除最高和最低值等、则 MCU 仍应执行此操作。
谢谢 Bryan、
另一个高质量回复。 非常感谢。
