[参考译文] ADS4149：噪声系数漂移、具体取决于安装过程。

用户、

我们以前没有遇到过这样的客户问题。 我们将对此进行研究。 此部件底部有一个外露散热焊盘。 您的问题是否出在此焊盘未正确焊接到 PCB 上？ 您的输入是交流还是直流耦合到 ADC？  

此致、

Jim

Jim、您好！

这可能是、但焊接过程完全相同、在80个 TR 模块中、ADC 的工作方式略有差异。 大致说来、我们有40%的工作正常、40%的工作不那么好、20%的工作在中点不好也不坏。 我们的 PCB 具有这种外露的散热焊盘、散热焊盘上有空洞的过孔(未填充)、我们需要担心的一点是焊锡膏回流。 关键点是什么？

这可能是线性问题？ 我的意思是、由于 NF 是使用 Y 因子方法(测量低本底噪声和高本底噪声)测量的、因此 ADC 之间的低本底噪声和高本底噪声之间的增益漂移可能会有所不同、从而在 NF 中探索这种漂移性能。

关于交流耦合、我们使用  ADS4149 数据表"高带宽驱动电路(用于高输入频率)"中图117的设置。 因此、我们的输入为交流耦合、然后进行差动转换。

此致、

用户、

此器件的温度有多高？ 该器件具有许多 GND 引脚、焊盘主要用于散热。 如果它没有得到如此温暖的安装方式、可能不是此问题的原因。  

您是否使用高性能 MODE1？ 该模式 通过使输入时钟缓冲器更强(通过将其电流增加~3至5mA)来改善 ADC 的孔径抖动。

这主要影响高输入信号频率、其中抖动噪声主导 ADC 的整体 SNR。

例如、如果  以 250MSPS 采样、在-230MHz 频率下、-1dBFS 时的 SNR 可能会提高1到1.5dB。

对采样频率的影响：如果时钟信号在不同采样频率下的上升和下降时间相同、则该模式的影响不应取决于时钟采样率。

但是，可以看出，特别是在正弦波时钟的情况下，时钟信号的上升/下降时间在较低的采样率下会下降，进而降低 ADC 时钟缓冲器的孔径抖动。

由于这个模式使得输入时钟缓冲器更强、在较低的采样率下、它的影响更加明显。

总之、该模式对于高 IF /低 FS 组合最为有用、其主要影响是 SNR、也可以略微改善 HD2 (1dB 或2)。

电源噪声也会降低 SNR 性能。 您的电源是否可能有噪声？

我正在等待设计团队回复您的其他问题。  

此致、

Jim

测量 ADC 或去0ºC ADC 的近区域的温度并不容易、但我们已将气候室中的环境温度从0ºC μ V 更改为50ºC μ V、我们可以看到每个 TR 模块相对于 μ F 温度的增量为0.4dB。 奇怪的是、这种漂移在 TRMS (0.4dB)中非常相似、并且由于安装过程(或至少这是我们假设的)而产生的差异与室的任何温度配置保持相同。 因此、我认为此焊盘的温度不会影响。 我们还将更改与外露 ADC 焊盘的耗散接口、并在好坏板中获得类似的结果。

我们配置了高性能模式(1、2、两者都是...) 我们在 NF 测量中看不到任何差异。 我们使用差分方波信号时钟、因此我假设时钟的相位噪声(或抖动)不会影响 NF。 此外、我们在带宽中测量 NF、因此任何噪声增加都必须在带宽中、以使性能变差。

我们已经能够比较几个 TRM 中的电源(一个具有良好的 NF、另一个具有较差 NF)、并且它们之间没有差异。两个模块中提供的 VCM ADC 完全相同(使用万用表、示波器和频谱分析仪进行测量)。

我认为这个问题可能是线性问题、您能否针对不同的 ADS4149序列号提供更多的积分非线性测量(ADS4149数据表中的图98)？ 我对 ADC 之间的线性漂移测试感兴趣、如果您能提供该信息、我们将不胜感激。

感谢 Jim 的努力、

最棒的

迭戈、

迭戈、

我已向设计团队申请了此数据、但不确定他们是否提供任何数据、因为这是一款旧器件。

此致、

Jim  

非常感谢 Jim。

此致、

迭戈

迭戈、

我们似乎没有这些数据。

此致、

Jim

Jim、您好！

这是一个遗憾、因为我认为它可以为我们提供一些重要信息。 您能否告诉我如何进行线性度测量(如果可能的话、请提供比数据表更详细的信息)、以便重复我们实验室中的一些 ADC？

提前感谢您、

此致、

迭戈

迭戈、

请找到所附的 MAX 和 MIN INL 数据、 这些数据 是从生产中下载的。

值以 LSB 为单位并绘制为框图。 我将了解有关测试方法的信息。  

此致、

Jim

e2e.ti.com/.../ADS4149_5F00_INL.pdf