Other Parts Discussed in Thread: DDC264EVM, DDC264
尊敬的同事：
客户希望使用 DDC264EVM 比较其 DDC264数据采集结果。
但当他们在16位中使用 DDC264EVM 时、会遇到以下问题。
他们想知道：
在16位配置中出现错误输出格式的原因是什么？
在输出汇总中、该值由 GUI 平均、有多少次得到平均值？ 如何获取行数据？ 因为他们想要将 DDC264数据采集结果与 DDC264EVM 进行比较、所以现在他们的电路板噪声很大。
当格式更改为16位时、无论输入信号幅值和频率如何变化、GUI 中的输出都是错误的、最大值不是65535。 结果如下：
当格式更改为20位时、输出随着输入信号的变化而变化、结果正常。 结果如下：
连接配置：
您好 Praveen、
根据您的建议、客户已获得原始数据。 但现在他们担心 A 通道和 B 通道之间的差异。
客户测试流程：
1.在 DDC264EVM 中、使用 PD 替换通道128、94、35电阻器。 公共端接地。
2.将 EVM 置于 屏蔽环境中(无任何光源并隔离电磁辐射干扰)
3.设定不同的增益(总共11-00是4种增益)，集成时间为1000us 和2500us。 获取20位和16位的原始数据。
结果如下：
标准差是512个样本的标准差。
客户关注的问题包括：
在00增益中、A 和 B 之间的差值非常大、如红色框所示。 对吗？
2.标准偏差是否正常？
非常感谢！
此致、
罗克苏
尊敬的 Rock：
如果我们看一下您用红色平方的方框、则差值会随范围而变化、正如人们所期望的、如果是由电荷引起的(下面的内容更多)。 即、在范围3 (150pC)和范围0 (12.5pC)之间：
范围0：5812-2899=2913
2.范围3：4108-3848=260 -->在范围0中，预计这将是 X150/12.5=3120。
对我来说、听起来不错。 即、在范围3上创建260个代码的输入上的任何充电误差将在12.5pC 范围内产生超过10倍的误差。 该数字不完全匹配、因为偏移并非全部是由于输入电荷而导致的、而是由于其他常数因子(不随范围变化)、但它非常接近...(因为缺少一个更科学的术语：))
现在、人们会想知道该电荷的来源是什么。 该偏移的一种潜在机制是 A 侧放大器的输入偏置电压(VA)与 B 侧(Vb)略有不同。 断开 A 后、将在 Cdet 中对输入偏置电压进行采样(传感器和迹线寄生电容) 如果 B 的输入偏置电压与 A 不完全相同、则该电荷会在连接 B 侧时转移到 B 侧。请注意、Cdet 越大、传输的电荷就越大。 在12.5pC 下3000个计数将为35fC。 这将对应于 Cdet x (VA-Vb)。
这只是一个理论、因此、如果他们使用测试模式(断开输入)或简单地拔下 PD (光电二极管)、他们能否确认差异变得小得多？ 他们是否知道 PD 寄生电容的值？
总之、A 侧和 B 侧之间的失调电压不匹配看起来正确、可以通过标准校准/减法来消除。 然而、一个看起来可能太大的问题是噪声。 他们似乎在谈论范围3中的50ppm FSR、不是吗？ 通过查看 DDC264 DS、我们可以看到、要获得该级别的噪声、需要1000pF PD (表的右下角)、它很大。
他们能否确认他们的 PD 真的这么大？ 如果不是、在测试模式下、他们能否在没有 PD 或更好的情况下再次查看噪声数？ 任何其他输入的噪声值如何？ 例如、由于缺少屏蔽、噪声通常会增加、因此、在没有 PD 的其他输入中也可以看到噪声。 屏蔽盒是否接地？
此致、
教育
尊敬的 Eduardo，í a
感谢您的理解和帮助、在您的指导和鼓励下、我们进行了测试。
根据上次反馈、有三个要点：
上述三个点中最后两个点的测试结果如下：
图1.
2.将寄存器 bit 0设置为0、同时模拟 PD 电流端空连接、连接器悬架处理、读取5000+ PPM 时的噪声、原因未知。 数据点异常、波动偏离预期。
根据上述测试条件：
Q1：上述问题的可能原因是什么？
Q2：在‰模式下、DDC264芯片 A 和芯片 B 之间的 PPM 差异约为2 μ A。 在非测试模式下、在没有检测器的情况下、它大约为2%。 在非测试模式下、当与探测器，连接时、它大约为8%、差异是否如此之大是正常的？
关于 PD 检测器的电容：
对于 PD 检测器的杂散电容、采用数字桥测试。 100kHz 频率、并行模式、电桥电容测量、PD 的电容值在57pF 附近单独测试、线路电容低于5pF、DDC264输入电容在6pF 附近单独测试。 DDC264+接线+PD=70pF。 最后一次测量1000pF 的原因是使用了串联模式和1kHz，这一次使用针对大阻抗器件的并联模式可以提高精度。
表1.
最后一个问题是积分器 A 和 B 可以根据您的介绍进行校准。 您对校准方法有什么建议吗？
再次感谢您的耐心等待。
此致
李林恩
此致
李林恩
您好、Lynn、
这是一个很好的开始方式。 从 EVM 获取 DS 结果... (当然、您所展示的图表不是您想象的那样)。
设置/计时看起来应该正常工作。 您对"跳电容短路"的意思是什么？ 您说的是在通道256的输入和接地之间放置一个电容器吗？ 没关系。 如上所述、将输入对地短路是不好的...实际上、您可以执行的最简单的测试是拔下 AIB (模拟接口板)、小型电路板... 您可以做的另一件事是将位0设置为"1"、即进入测试模式、这将断开输入并消除上述一些问题。
无论何时使用外部连接(不是在测试模式下)、另一件事是将设置放在屏蔽盒中。 请注意、范围为零的输入极其敏感。 12.5pC 的30ppm 为0.37fC！ 因此、该器件将在输入端拾取任何小信号耦合、尤其是在您具有如图所示的情况下、AIB 未连接到任何东西/悬空。 从这个意义上讲、从信号图的形状来看、我认为您有某种包络(不仅仅是随机噪声)。 您每2.5ms 进行一次采样、中国电网频率为20ms (50Hz)。 该图仅显示 A 样本、因此每5ms 进行一次采样。 如果我看的没错、您实际上可以看到样本是如何在50Hz 信号上运行的... 例如、从顶部开始、然后您得到一个半向、然后到达底部的一个、削波、再到另一个半向、再到顶部的一个、依此类推：
所以、如果我不得不打赌、这就是... 50Hz 耦合到您的输入。 测试模式将使一切看起来正常。 屏蔽盒也可以解决问题。
此致、
教育
注意：查看与设置相关的图、您是否单击了更新图解？ 似乎不匹配、但我会让其他更熟悉该软件的人来看看... 无论如何、我认为它不会影响结果。 它只是一个显示功能。
您好、Lynn、
如果 您使用"Update Plot"按钮、您应该会看到下面的时序图。 但是、它不应影响设置或数据采集。 谢谢。
此致、
TC
尊敬的 Eduardo，í a
感谢您的帮助、我们通过您的帮助获得了结果。 正如预期的那样、获得的数据与手册不一致的原因主要是测试环境造成的。 通过评估手册中 EVM 的测量数据和最小增益、在20位、320us 集成时间内、收集的数据噪声具有10个以上的 ADC 值、 与手册中建议的6.5adc 值不同(我们理解它是测试与环境之间的差异)。 两个内部 a/b 积分器在不同增益下确实有不同的差异、如下面的表1所示；
最小增益/积分时间为320us、噪声约为16.4、与手动6.5相比、ADC 值存在10个差异；内部 a/b 积分器的偏置值和噪声差异分别为0.7%和0.4%、但增益最大。 内部 a/b 积分器的偏置值差异增加到3.1%、噪声差异增加10.6%。 随着集成时间的增加、内部 a/b 积分器的偏置值差异增加到40%、 噪声差异为10.5%请从专业角度帮助分析上述获得的数据、尤其是 a/b 积分器的差值是否真实可信(我们能否理解 a/b 积分器存在差异、 这种差异与我们的上述测试结果一致、也许您可以直接帮助给出 a/b 积分器的差异、谢谢！) 此外、我们将根据上述测试结果继续向下测试。 请帮助我们评估测试方法是否合理？ 感谢您的支持！ 以上数据均在静态状态下进行测试(静态定义：ddc264输入端子通过10m 电阻与 GND 相连、无需信号访问)。 未来、我们将收集 ddc264的稳定数据、并评估开路状态下的芯片噪声和积分器差异(开路状态定义： ddc264输入端子与光电探测器相连、探测器放置在固定光强度环境中、等效且稳定)输入)测试 ddc264芯片的响应值和噪声
测试步骤如下：
1.将 EVM 的 ddc264芯片的输入连接电阻 替换为 PD。 PD 是一款16点光电检测器、PD 二极管阴极连接到 GND。 连接如下图所示；
2. PD 植入稳定的光强度环境，通过设置不同的增益和不同的积分时间来收集 ddc264芯片的输出信号；
3.通过收集数据信号来评估访问 PD 后 ddc264芯片的总体响应值和响应噪声。
本致
李林恩
尊敬的 Edu：
很抱歉、您的回复太晚了。我们还添加了一些测试和数据处理。 最初、我们计划在回复您之前完成补充测试并提供补充测试结果、但结果不符合预期。 我们为您提供上述问题的随附数据表。 请检查一下。 此外，如上所述，我们正在进行补充测试。 测试结果出来后、我们也可以进行通信。 感谢您的特殊支持！
此致
李林恩
尊敬的 Edu，í a
很抱歉、您回复的时间太晚了、主要是因为我们还添加了一些测试和数据处理。 最初、我们计划在回复您之前完成补充测试并提供补充测试结果、但结果不符合预期。 我们为您提供上述问题的随附数据表。 请检查一下。 此外，如上所述，我们正在进行补充测试。 测试结果出来后、我们也可以进行通信。 感谢您的特殊支持！
李林恩
