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大家好、
我想了解一下如何在器件中实现自校准以及如何操作过程的理论。 使用 OFC 和 FSC 寄存器执行手动校准命令的 SYOCAL 和 SYGCAL 吗？ SFOCAL 如何在器件内部执行自偏移校准？
提前感谢。 S.Sawamoto
您好、Shinya-San、
校准信息位于 ADS114S08数据表9.3.14节中。 这可能是一个相当令人困惑的主题、因此我将尝试提供更多详细信息。
偏移校准有两种类型。 有内部自偏移校准(SFOCAL)和系统偏移校准(SYOCAL)。 在大多数情况下、您会选择使用自偏移校准。 自偏移校准使用 ADS114S08多路复用器内部短路将 ADC 输入设置为中模拟电源。 ADC 获取 SYS 寄存器中指定的转换数(CAL_SAMP 位默认为8个样本)、并使用为器件配置的 PGA、数字滤波器模式、基准和数据速率设置对结果求平均值。 预期结果为0、因此转换结果将自动放入 OFC 寄存器中、然后从此后的每个转换结果中减去。
系统偏移校准(SYOCAL)将使用相同数量的样本平均值并将结果放置在 OFC 寄存器中、与之相似。 不同 之处在于、用户必须在 PGA 设置的正确输入范围内对外部施加短路。 在某些需要短接跳线的情况下、这可能是一个非常复杂的过程。 SYOCAL 很有用的地方是、如果有一个外部放大器或传感器具有显著的偏移、校正将简化去除偏移的过程。 我认为、使用 SFOCAL 并将任何传感器偏移存储在微控制器固件/存储器中通常更容易。 通过这种方法、可以发出周期 SFOCAL 来消除 ADC 随时间推移的任何偏移漂移、而 SYOCAL 则无法轻松实现。
由于在最终测试中调整了增益以提供针对内部基准的电气特性表中显示的增益精度规格、因此没有内部自增益校准。 SYGCAL 很有价值、但您必须向 ADC 输入应用满量程信号、该过程与偏移校准类似、但应将校正因数放入 FSC 寄存器。 同样、这可能是一个复杂的过程、应用开关或跳线进行校准、这也会增加误差。 此外、由于大多数外部基准通常用于比例式测量、因此无需进行此校准。 同样、由于漂移、SYGCAL 可能不是最好的使用方法。
因此、它实际上取决于传感器和所需的响应。 通常、16位不需要与24位器件相同级别的偏移和增益校正。
此致、
Bob B
