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[参考译文] ADS5444-SP：EOL 偏移误差

admin
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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/940028/ads5444-sp-eol-offset-error

器件型号：ADS5444-SP

大家好、

我们目前正在将 TI 5962-0720701VXC 用于高可靠性应用之一。 我们要确认数据表中指定的+/- 0.6 %FS 偏移误差是否通过测试或分析得到保证。 如果通过分析、分析是否考虑了 EOL 漂移？

这对我们的发展至关重要。 感谢您的及时支持。  

此致、

Dennis

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    尊敬的 Dennis：

    数据表中指定的偏移误差通常通过测试而非分析来保证。 但是、这不考虑 EOL 漂移。

    此致、

    Rob

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    尊敬的 Rob：

    感谢您的回答。

    我们是否有机会使用任何数据或分析来估算漂移(老化、热、辐射...) 该参数的 EOL 性能？

    此致、

    Dennis

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    尊敬的 Dennis：

    我们不允许与客户共享测试仪的实际数据。

    但是、我对产品线有疑问、以了解可以共享哪些内容、从而使您对该规范充满信心。

    我会尽快联系您。

    此致、

    Rob

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    尊敬的 Dennis：

    查看此器件的 SMD、似乎表明需要进行组 C 测试。 C 组包括将由 ATE 测试参数涵盖的寿命测试。  

    这是否还不够？  

    此致、

    Rob

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    尊敬的 Rob：

    感谢您的评论。 我注意到、5962-07207中的输出偏移限值也是+/- 0.6 %FS、与您提到的 TI 数据表 BOL 中列出的值完全匹配。  

    这是否意味着该参数根本没有漂移的使用寿命后测试？

    此致、

    Dennis

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    尊敬的 Dennis：

    很抱歉耽误了时间、我终于找到了合适的资源来讨论这一问题。

    答案是肯定的、有人告诉我、我们获取了足够的数据并执行了大量防护带、以确保 此参数的寿命后测试。  

    此致、

    Rob