朋友们、您好!
我尝试通过 ATmega88控制 ddc112、我找到了连接原理图、我阅读了 ddc112数据表和应用。 注释,但有一些要点无法理解,如:
测试模式的用途是什么,它会检查什么,如果测试正常或不正常,我如何获得结果,当我执行测试时。
-范围的优点、我更改范围 R0、R1、R2的原因和时间。
我使用 ddc112读取 光电电池的输出电压,并具有内部电容。
是否有任何 C/C++示例代码。
谢谢
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朋友们、您好!
我尝试通过 ATmega88控制 ddc112、我找到了连接原理图、我阅读了 ddc112数据表和应用。 注释,但有一些要点无法理解,如:
测试模式的用途是什么,它会检查什么,如果测试正常或不正常,我如何获得结果,当我执行测试时。
-范围的优点、我更改范围 R0、R1、R2的原因和时间。
我使用 ddc112读取 光电电池的输出电压,并具有内部电容。
是否有任何 C/C++示例代码。
谢谢
您好、Mohamed、
DDC112测试模式使得用户能够在开发阶段调试他们的系统并且也可作为一个良好的系统级诊断检查。 在此模式下、输入断开、大约13pC 的电荷被传输到输入1 和输入2集成电容器。 此参考电荷可用于验证您的测量读数是否正确。
不同的范围设置允许用户以从 FAS 到 mAs 的出色精度测量电流。 有关不同范围设置的更多详细说明、请查看以下帖子。
https://e2e.ti.com/support/data-converters/f/73/t/390605?DDC-112-gain-adjustment
我们没有针对 DDC112的任何 C/C++示例代码。 下面列出的测试模式应用手册末尾有一些示例代码(Turbo Pascal)、您可能会发现这些代码很有用。
http://www.ti.com/lit/an/sbaa025/sbaa025.pdf
谢谢。
-TC