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[参考译文] DDC316:不同测试模式期间的范围位寄存器设置

Guru**** 1492485 points
Other Parts Discussed in Thread: DDC316
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/938178/ddc316-range-bit-register-settings-during-different-test-mode

器件型号:DDC316

您好!

当 ADC 芯片设置为测试模式3 (TM[1:0] 11)时、 可无任何问题地更改范围位设置。 当在改变范围位的设置后发生新的转换时、将显示具有新范围设置的输出。

然而、当 ADC 在正常模式(TM[1:0] 00)下运行时、情况并不相同。
在此模式下、将 ADC 的范围设置从一种设置更改为另一种设置(例如从00更改为11)、并且发生新的转换后、ADC 输出仍然提供的范围设置为00、而不是11。

在正常模式下运行 ADC 时、有一个固定数量的电荷从外部转储到积分器中。

我想知道我是否错过了在正常模式下更改范围设置所需执行的任何操作。 非常感谢。

此致、

Vincent Siah

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    尊敬的 Vincent:

    请参阅第17页的"配置寄存器的写入和读取"一节以及图2、了解如何写入和读取器件配置寄存器。 您可以写入器件配置寄存器并读回 DOUT1上的新配置寄存器。 从回读数据中、您可以在写入配置寄存器后首先验证是否具有正确的 TM 和范围设置。

    您是否使用回读配置寄存器来确定范围设置不正确或查看 DDC 数据输出?

    测试模式(TM)功能允许用户通过更改输入与积分器的连接方式来验证 DD316噪声。 对于测试模式1、2和3、外部源将从 DDC316集成器断开。 这些测试模式允许在不受任何外部输入源影响的情况下评估 DDC316噪声。 TM 和范围设置相互独立、因此您应该能够将范围和 TM 设置更改为您需要的内容。

    如果您需要进一步的帮助、请告诉我。 谢谢。  

    -TC

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    尊敬的 TC:

    非常感谢您的响应、但事实证明芯片出现故障:测试期间用于转换的特定通道不起作用。

    一旦我更改为其他通道、输出就会按照我的预期输出。

    非常感谢。

    此致

    文森特