您好、专家、
我的客户在电磁场抗扰度测试中遇到温度传感器输出值错误的问题。
测试:IEC61000-4-3 RI,10V/m 80MHz
在电磁场抗扰度测试中、温度传感器输出值在20C 至60C 之间变得不稳定。 (ADC 值稳定)
问题1. 您能告诉我温度传感器的内部电路吗? 去皮盖等
可能很难披露这些信息。 您认为内部温度传感器会受到 EMC 的影响吗?
问题2. 如果他们在 TM_BUSY 为低电平时意外读取温度传感器值、读取结果是否 不稳定?
谢谢
穆克
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您好、专家、
我的客户在电磁场抗扰度测试中遇到温度传感器输出值错误的问题。
测试:IEC61000-4-3 RI,10V/m 80MHz
在电磁场抗扰度测试中、温度传感器输出值在20C 至60C 之间变得不稳定。 (ADC 值稳定)
问题1. 您能告诉我温度传感器的内部电路吗? 去皮盖等
可能很难披露这些信息。 您认为内部温度传感器会受到 EMC 的影响吗?
问题2. 如果他们在 TM_BUSY 为低电平时意外读取温度传感器值、读取结果是否 不稳定?
谢谢
穆克
您好、Muk、
我们没有关于在 EMF 下温度传感器的行为方式的信息。 但当您说不稳定时 、读数是否完全错误? 或者是否有移位。 它到底有多不稳定? 在20°C 至60°C 以外的其他温度下、它的行为是否符合预期?
总的来说、我们 建议在 电源上使用良好的屏蔽和耦合。
下面是配置和读取温度传感器数据的时序图。
需要设置控制寄存器以使温度传感器进行转换、这是第一个帧
第二个帧、当 BUSY 为高电平时、这表示正在转换温度传感器数据、但在下一个帧(此时 BUSY 为低电平)之前、数据不会输出、第三个帧。
此致
Cynthia
您好、Cynthia-San、
请参阅以下读取值。
它 看起来是随机的。
X:测量时间(F=大约4秒),Y:温度传感器读取值*C
它是由室温测量的。 但 ADS8028在其系统内部是密封的。
有时、读取结果 会超过75C。 然后、测试失败。
此外、在 正常情况下(而不是 EMF)、这不是问题。
如您所述、我们 建议在 电源上使用良好的屏蔽和耦合。
您对 电源的屏蔽和耦合的具体方法有什么想法吗? 请告诉我。
顺便说一下、AIN0 和 AIN7之间的读取值没有问题。 温度传感器是否易受噪声影响?
(附加问题)
AINx 的转换时间为700ns
温度传感器的转换时间 为100us
您能否告诉我 AINx 和温度传感器之间差异的原因?
客户希望了解温度传感器的内部机制和顺序。
谢谢
穆克
您好!
对假期延误表示歉意。 我将与我们的设计团队联系、以获取有关内部温度传感器的更多信息。
在他们的响应之前、我将无法说温度传感器是否更容易受到 EMF 的影响、如果是、如何影响。
由于它是完全内部的、因此很难进行补偿。 首先、我建议在电源上使用较大的实心接地平面和尺寸合适的去耦电容器。
根据应用的不同、屏蔽看起来可能有所不同。 用户可以在 PCB 上的器件上添加一个物理盖、也可以使用屏蔽电缆、等等。 如果您想进一步详细地讨论此问题、请随时向我发送电子邮件。
此致
Cynthia