[参考译文] ADS1258-EP：ADS1258MRTCTEP

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器件型号：ADS1258-EP
主题中讨论的其他器件：ADS1258

还有一点、我理解数据表中说 ADS1258MRTCTEP 在 SPI 接口中输出数据、在对输入信号进行采样时报告器件的增益误差(最大值为.5%)和基准读数误差(1%=> 3%)。我假设这意味着软件/固件可以读取数据流中的这些错误，这将使这些测量错误在测量读数中得到考虑/消除？例如、如果将100uV 的差分模拟信号馈入 ADC、软件/固件可以在测量期间查看增益误差和基准读数误差、消除这些误差因素、并计算直接在输入端看到的确切实际值100uV？

6 年多前

0 admin 6 年多前

TI__Guru**** 2394305 points

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您好！

我正在调查您的问题、希望在一天内回复。

谢谢

Christian

0 admin 6 年多前

TI__Guru**** 2394305 points

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您好、Johnathan、

我从开发此器件的团队那里获得了以下信息。

"听起来好像 Johnathan 在询问 ADS1258的校准问题，这是可能的，但必须在客户的 MCU/固件中完成，因为 ADS1258没有任何校准寄存器/数学块在内部执行校准。因此、MCU 需要为客户想要校准的每个通道存储偏移误差和增益误差、然后执行数学运算：(output_code–meased_offset_code)/(meased_gain_error)

他首先可以在 ADC 输入短路的情况下测量和校准失调电压、然后测量和校准增益误差(按该顺序)。然而、为了使增益误差校准生效、校准信号的精度必须大于0.5%(否则校准只会使增益误差变差)。如果无法满足此标准，则最好仅测量和校准 ADC 偏移，并与 ADC 的未校准增益误差保持一致。”

谢谢

Christian

0 admin 6 年多前

TI__Guru**** 2394305 points

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此外、为了确认、当采样/测量期间从 ADC 发送输出数据时、所提供的数据中包括当前采样的每个单独通道的参考读数误差(+/- 1%=>+/- 3%)？那么、有方法可以消除由于 ADC 基准误读数而导致的任何测量误差？

0 admin 6 年多前

TI__Guru**** 2394305 points

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您好、Johnathan、

查看数据表中的图36。。。内部增益监视器可帮助您校准内部 ADC 增益误差、但它不会考虑与每个通道相关的增益误差、因为输入多路复用器(和所有外部电路)是旁路的。

您可以使用内部增益监控器来解决 ADC 的内部增益误差、但要为每个通道获得更精确的增益误差校准、您需要为每个输入通道提供校准信号(或在受控环境中测量传感器、这样您就知道输入电压的预期值)、然后测量每个通道上的电压并将其与预期值进行比较。

数据转换器（参考译文帖）

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