主题中讨论的其他器件:REF5050、 DAC8775
你(们)好,先生
我想设计一个4组4-20mA、
测试 ADI/AD5755-1、TI/DAC8775+外部基准(Ref5050)
经过60度温度测试后、我发现 TI 的精度低于 ADI、请告知您、谢谢
TI (DAC8775+REF5050):FSR 0.06-0.07% ADI (VREF 集成):FSR 0.02%
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你(们)好,先生
我想设计一个4组4-20mA、
测试 ADI/AD5755-1、TI/DAC8775+外部基准(Ref5050)
经过60度温度测试后、我发现 TI 的精度低于 ADI、请告知您、谢谢
TI (DAC8775+REF5050):FSR 0.06-0.07% ADI (VREF 集成):FSR 0.02%
Alex、
数据表中显示的图、至少在 TI 方面、是从不同批次的多个器件上收集的。 此外、通过对最终测试中的仪器重复性和其他长期良率问题的研究、可以对其进行防护。 这样做的原因是为了确保数据表基本上可以用作大于99.9%的单位的保证数字。
您似乎已经在两个 EVM 上测量了 IOUT 精度。 在本例中、ADI 部件更好。 在多个器件上、当 TI 更好、ADI 更好时、您可能会看到实例分布。
尽管如此、数据表确实承认 DAC8775上的4-20mA 输出精度相对于其他范围的限制-因此这是可以预料的。 通过在内部研究数据、4-20mA 范围上的保护带比其他范围更大、因此在近期内我们有可能会收紧该规格。 它是否与其他范围匹配或只是接近是要确定的。
最后、我建议您/您的客户根据数据表做出决策、而不是使用 EVM 在他们自己的工作台上收集的信息。 这不是要诋毁他们的测量能力等、但我们已经完成了非常详尽的测量工作、因此重复同样的工作通常没有太多的价值。