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[参考译文] ADC08B3000:关于 adc08b3000测试图形输出函数

Guru**** 2393725 points
Other Parts Discussed in Thread: ADC08B3000

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/862815/adc08b3000-about-adc08b3000-test-pattern-output-functions

器件型号:ADC08B3000

我对 adc08b3000上的测试图形输出函数有疑问。

我想将测试图形同时输出到 D1和 D2端口。  我正在使用该测试图形输出函数进行调试。

数据表包含模式“序列 n”和“序列 N + 1”。

"pattern sequence n"和"pattern sequence N + 1"是否意味着这一点?  (遗憾的是、数据表中未详细介绍这些参数。)

数据表还包含从时间 T0到时间 T15的预期值。 我认为、在读取捕获缓冲区时、需要进行测试

图形按从 T0到 T15的顺序输出。 但是、我觉得测试模式是随机输出的。

每次我读取捕获缓冲区时、我感觉测试图形输出顺序不是恒定的。

如果您对这些现象有任何想法、请告诉我。

您能告诉我是否有任何测试图形正常输出的规则?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    用户、

    我们将对此进行研究。

    此致、

    Jim

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Jim:

    非常感谢。

    我将等待您的检查结果。

    此致、

    山田美

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Yamada、

    很抱歉耽误了时间、 我和团队进行了沟通、 测试模式全速测试、因此我相信测试模式不会有任何问题。

     我们期望 ADC 在填充和清空捕获缓冲区时没有正确的握手,并且/或者控制位没有正确设置(TPO 测试模式输出,TPE 双端口启用)。 可以检查一下吗?

    测试模式在 ADC 输出端的逻辑中创建、因此缓冲区的运行方式需要与正常 ADC 运行期间的运行方式相同。

    如果没有 完全清空缓冲区或完全填满缓冲区等、则可能会出现问题、因为指针无法正确复位。

    因此、部分填充或清空缓冲区会导致结果不正确、数据记录损坏等

    希望这对您有所帮助。

    此致、

    Rob

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    尊敬的 Rob San:

    我非常感谢你的工作人员的支持。 非常感谢。

    听过您的建议后、我就感受到了。在正常的 ADC 操作过程中、我对测试模式的操作方式是相同的。

    但是、在我们的 ADC 的过程中、可能会有缓冲器未完全填满的情况。

    我将尝试重新检查 ADC 的过程。

    此致、

    山田美