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[参考译文] AMC1303M2520:方法 B1如何筛除 SiO2隔离内部的污染?

Guru**** 2812305 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/855285/amc1303m2520-how-does-method-b1-screens-out-against-contamination-inside-sio2-isolation

器件型号:AMC1303M2520

大家好、团队成员。

客户问我、方法 B1测试如何通过方法 B1局部放电测试来筛除"污染"?

我知道方法 B1包含2种不同的用途测试,1用于高压耐受能力测试,但会擦除污染。

"进行方法 B1局部放电测试"如何筛出污染?

请告诉我吗?

我在下面提到了我们的文档。

方法 B1的第二部分是在“VM”处进行1秒的局部放电测试,即>/=用于增强型隔离的1.875x VIORM。 局部放电测试将筛选出模塑化合物中存在电活性空隙的单元"

http://www.ti.com/lit/wp/sszy028/sszy028.pdf

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    你好、Takahashi-San、

    局部放电测试会查找模塑化合物中是否存在空隙或空隙。  空气的介电系数低于模塑化合物的介电系数、这会导致空隙周围的电场强度高于绝缘材料的其余部分。  由于空气的介电强度低于模塑化合物的介电强度、因此可以在空隙中进行电放电。  这些放电事件是测试屏幕所针对的。

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    大家好、Tom - San

    谢谢您的回复。

    我们是否可以假设模塑化合物中会有很大的空隙、而部分放电无法滤除?

    抱歉、我不知道这些系数有多大不同。

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    你好、Takahashi-San、

    IEC 60747-5-6中描述的测试旨在筛查隔离电容器和模塑化合物中的缺陷。  如果模塑化合物中存在小空隙、但不会导致 PD 测试出现问题、则不应出现问题。