This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] ADC12D1800:ADC 测试模式

Guru**** 2391165 points
Other Parts Discussed in Thread: ADC12D1800

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/752413/adc12d1800-adc-test-pattern

器件型号:ADC12D1800

您好!

在我们的设计中、ADC12D1800器件与 Xilinx Virtex-7 FPGA 相连接。

在多路信号分离器模式接口中、ADC 配置为 DES 模式运行。

ADC 的 I、ID、Q 和 QD 信号连接到 IBUFDS 基元、然后连接到 FPGA 中的 IDDR 基元。 ADC 采样时钟为1.35GHz。 当尝试捕获测试模式时、很少有样本随机损坏。

然后尝试将 ADC 采样频率降至400MHz 并在0和90之间更改数据到 DCLK 的相位关系。 测试模式仍然损坏。

请建议如何正确捕获 ADC 测试模式。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你(们)好,Sarath
    如果即使在时钟频率降低的情况下捕获的图形也很糟糕、则电路板设计中的信号完整性可能会出现问题。
    您能否在 FPGA 的 RX 引脚附近探测有问题的差分对信号以检查波形质量?
    此致、
    Jim B