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[参考译文] DAC121S101QML-SP：DAC121S101QML SEU 报告

admin
Guru**** 2390935 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/733844/dac121s101qml-sp-dac121s101qml-seu-report

器件型号：DAC121S101QML-SP

我需要 DAC121S101WGRQV 的 SEU 报告。

我通过 ti.com/radiation 找到了可用的报告、其中提供了 TID、SET、SEFI 和一般请参阅。 然而，这些报告没有澄清发援会登记册的混乱率。

在静态采样模式下运行时、我对该 DAC 寄存器的翻转率感兴趣、在静态采样模式下、串行接口会写入一次、但在测试过程中不会刷新 DAC 寄存器中的输入代码。

 

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    TI__Guru**** 2390935 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 David：

    器件上的寄存器是耐辐射的、不会因离子冲击而扰乱。 "Sefi"用于单粒子功能中断、这将是寄存器翻转的结果。 如请参阅报告中所示、未检测到 SEFI、并且寄存器未出现故障。 检测到的唯一单粒子效应是输出瞬态、但在瞬态减弱后、输出电压返回到其编程值。

    见见见报告第12页。

    www.ti.com/.../snaa155.pdf

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    TI__Guru**** 2390935 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Kirby、

    SEUS 和 SEFI 之间存在相当显著的差异。

    • SEU 通常被视为存储器/存储元件中的状态变化、是 "软"位错误、在这种情况下、器件会继续工作并重新写入该位、从而使其恢复正常运行状态。
    • SEFI 是器件停止正常功能的情况、通常需要电源复位才能恢复正常运行。 这是 SEU 更改内部控制信号的一个特殊情况。

    在测试期间、为了报告此 DAC 没有任何 SEFI (或停止运行)、这与声明器件在 DAC 寄存器中存储的值没有软错误的情况不同。 但是，在审查了 SEI 报告之后，我可以看到使用了 SEFI 一词，包括软性 SEUS。

    • "对于 SEFI 测试、该器件 在静态模式下进行了测试、其中 代码输入一次 、从未更新过。
    • ' μs 确保由于每1 μ s 更新一次输入和控制代码而未检测到可能的 SEFI、还在静态模式下测试了一个单元 、其中输入和控制代码输入一次、从未更新过。'
    • "在静态模式下测试该器件时、未看到 SEFI 的任何证据。 输出 始终返回到预期电压..."

    感谢你的帮助。

    David