This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] ADS4245:ADS4245

Guru**** 2386600 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS4245
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/706632/ads4245-ads4245

器件型号:ADS4245

您好!

我想问一下 ADS4245 ADC LVDS DDR (双倍数据速率)输出的时序。

在数据表中、给出了160MSPS 的 tsu 和 TH 值。  

 给定的 tsu_min = 1.5ns、th_min=0.3ns 值对于160MHz 输入时钟非常有意义。 (时钟周期的一半为3.25ns)

在此频率下、在 FPGA 输入端正确捕获 ADC 数据必须有点复杂。

正如我所知、为了正确捕获 ADC 数据、我们必须考虑一些设计架构、如下面所示:

**数据路径上的 IBUFDS + IDELAY + IDDR primitevs。  

** IBUFDS + IDELAY +(基于 BUFIO/BUFR/BUFG 和 MMCM 的时钟架构的正确组合)

**选择正确的时钟来馈入 IDDR 的时钟输入

**更改数据 IDELAY 或时钟 IDELAY 基元(静态或动态)的延迟值,以便在数据眼图上的确切安全点捕获数据

**在 HDL 设计的限制文件中正确地限制 tsu 和 th 值

(SET_INPUT_DELAY 限制可在 Xilinx Vivado 中用于此目的。

和 SET_INPUT_DELAY 值取决于 ADC 的时钟周期和 tsu/th 值)

**可能使用同步 FIFO 将 ADC 数据馈送到设计的用户逻辑部分

我的主要问题是关于较低的采样频率。

我们使用10MHz 采样频率的 ADS4245 ADC。 数据表中没有该频率的确切值。

在数据表中、有一个较低频率的采样时序值部分、 在该部分中、给定的值如下所示:

65MHz:Tsu_min = 5.9ns、th_min = 0.35ns

80MHz: Tsu_min = 4.5ns、th_min = 0.35ns

125MHz: Tsu_min = 2.3ns、th_min = 0.35ns

当 tsu 值变得更长时、为什么 TH 值是相同的? 这是数据表勘误表还是所有频率的值都相同?

在10MHz 采样频率下、DDR 数据与输出时钟的关系如何?

我们是否仍要关注较短的 tsu 和较短的 TH 值?

乍一看、我决定不使用分片式设计、直接从 IDDR 基元中捕获数据。  

IDDR 的时钟输入通过 位于 FPGA 中心的 BUFG 提供。 BUFG 的输入是 ADC 的输出时钟。

为了在 正确的位置调整采样的偶数/奇数部分、IDDR 被设置为同边沿流水线模式。

我认为时钟周期的一半是50ns。 我将输入延迟值设置为大约15-20ns。

在该配置下、它似乎可以正常工作。 在 Vivado 的 ILA 调试内核中分析捕获的 ADC 数据时、似乎是正确的。  

当我 决定对设计进行审查时、我会考虑更改或不更改设计。

我是否需要进行复杂的设计、因为即使在使用10MSPS 应用时、也会给出更短的 tsu 和 th 值?

最后、10MHz 输入时钟的确切 tsu/th 值对我来说是可以的、我可以确定设计架构。

如果10MHz 输入时钟的 tsu 和 TH 值仍然较短、则有效数据位置前后的数据会发生什么情况。

(我认为数据必须保持其最后的价值、直到变化时间到来。)

如果确切的 tsu/th 值不适用于10MHz 输入时钟、有人可以建议使用哪种设计架构来实现10MHz 采样频率?

任何建议和意见对我来说都是可以的。

谢谢。

穆斯塔法。

 

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好 Mustafa、

    我们将在稍后的帖子中就此向您回复。

    谢谢、
    埃本
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    我正在等待您的回复。

    另一方面、我意识到数据表中 LVDS DDR 输出部分的 LVDS 时序图
    未显示 CLKOUTP 上升沿与一个采样数据的偶数/奇数位之间的确切重载。
    在数据表中、一个采样数据(例如对应于 DA0的 D0、D1)从 CLKOUTP 的上升沿开始。
    D0与 CLKOUTP 的上升沿对齐、D1与 CLKOUTP 的下降沿对齐。

    根据我们的测试、一个采样数据(例如 D0、D1转接至 DA0引脚)从 CLKOUTP 的下降沿开始。
    D0与 CLKOUTP 的下降沿对中、D1与 CLKOUTP 的上升沿对中。

    这一差异使得 FPGA 采集设计的边缘对齐逻辑电路变得与众不同。
    如果您根据数据表进行设计、则会替换两个连续样本的偶数位和奇数位。

    捕捉的采样 N =[被视为采样 N-1]的偶数位+[被视为采样 N]的奇数位
    捕捉的采样 N+1 =[被视为采样 N]的偶数位+[被视为采样 N+1]的奇数位

    有时、当输入数据缓慢变化且采样频率较高时、很难意识到替换。

    您可以批准吗?

    谢谢。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好!

    我忘记在器件型号中添加 EP 扩展。
    我的所有分析和问题均针对器件型号 AD4245-EP。

    谢谢。