主题中讨论的其他器件：LMP90080、 ADS124S08、 ADS1248、 LMP90100
你(们)好
我可以得到你的答复吗？
[1]我需要计算 TUE。
⁰C 校准后的最差 TUE、我使用了 INL = 1LSB、偏移= 15uV、偏移漂移= 100nV/μ s、增益= 100ppm、
⁰C 漂移= 0.5PPM/μ s、最大 Ta = 150⁰C μ V、
最后、我发现 TUE 为0.826[mV](= 5.418[LSB])。
通过在不使用系统校准的情况下使用任何一个 BgcalMode1/BgcalMode2/BgcalMode3、
Lmp90080符合 TUE 的值是0.826[mV](= 5.418[LSB])、是我针对最坏情况计算得出的？
我们不会使用系统校准。
[2]在不使用系统校准和后台校准的情况下，
客户希望计算 TUE。 计算时必须使用哪些数据(INL/Offset/Offset 漂移/增益漂移)？
[3]在运行任何一个 BgcalMode1/BgcalMode2/BgcalMode3的过程中，
我们可以执行系统校准的任何时间?
[4]在禁用后台校准下、
如果我们只运行一次系统校准，那么一次校准的偏移和增益将永远使用？
[5]校准后的目的是什么？
我无法理解我为什么需要它以及如何使用它。
我需要有关 SCAL_SCAL_SCAL_SCAL_BITS 选择器的更多说明。
[6]对于系统校准、CH0 ~ CH3通过实际的板级校准其偏移和增益寄存器。
Ch4 ~ Ch6将分别重复使用 CH0 ~ CH2的偏移和增益。
因此，我认为 CH4 ~ CH6的精度可能不是最好的，因为它们没有实际的校准结果。
这意味着、在单端 ADC 中、客户最好在总共7个通道中仅使用4个通道用于 CH0 ~ CH3
由 CH0 ~ CH6提供。
您对我的观点如何？
或者，在使用总共7个通道的单端 ADC 时，我们是否能够确保 IC 仍然能够获得最佳精度，即使对于 CH4 ~ CH6也是如此？
[7]为了进行系统校准、CH0 ~ CH3通过实际的板级校准其偏移和增益寄存器。
Ch4 ~ Ch6将分别重复使用 CH0 ~ CH2的偏移和增益。
背景校准、它还具有用于 CH0 ~ CH3的每个偏移和增益寄存器、
并且会将 CH0 ~ CH2的偏移和增益重复用于 CH4 ~ CH6吗？
[8]在系统校准时、IC 需要系统零标度条件和系统基准标度条件来进行偏移和增益校准。
(8-1)对于单端 ADC 通道、我是否可以在较低 Vin 范围内为系统零标度选择任何输出代码
条件，并在系统参考标度条件的较高 Vin 范围内选择任何输出代码，如下所示？
(8-2)对于差分 ADC 通道、我是否可以在较低 Vin 范围内为系统零标度选择任何输出代码
条件如下、
并在系统参考量程条件的较高 Vin 范围内选择任何输出代码，如下所示？
[9]烧毁电流用于检测外部传感器诊断。
我的不足是它可以检测外部传感器开路/短路/等等。
一个拉电流从 VA 到 VINP、另一个灌电流从 VINN 到 GND。
我的问题是、无论使用何种差分 ADC 或、我都可以为外部传感器诊断启用烧毁电流
单端 ADC？
例如、通常我们对单端使用 RC 滤波器。
我想知道、无论在 VINx 引脚上实现了什么硬件配置、我都可以使用烧毁电流功能？
[10] SHORT _THLD_FAGG = 1表示两个 VINx 引脚短路故障？
[11]电源轨_FLAG = 1意味着其中一个 VINx 引脚大于(VA─50mV)？
[12]关于采样_CH 位。
这意味着发生任何一个 SHORT THLD_FLAG/RAIL FLAS/OFLO_FLAG 的通道？
[13]在 ScanMode1/ScanMode2/ScanMode3上，我们如何知道当前读取 ADC_DOUT 是哪个通道？
[14]关于 DT_AVAK_B 寄存器。
D/S 说 DT_AVAIL_B = 0表示新的 ADC 转换可用、DT_AVAIL_B = 1表示新的 ADC 转换准备就绪、
但寄存器映射说明是0x00 ~ 0xFE 表示可用、而0xFF 表示不可用。
哪一个是正确的？
[15] DT_AVAK_B 为“只读”。
当 MCU 读取 ADC_DOUT 时、将清除 DT_AVAK_B？
我想知道寄存器何时被清除。
[16]在 ScanMode2上，First_CH = CH0，LAST_CH = CH5，MCU 如何正确地知道哪个通道的当前 ADC_OUT？
[17]在 SDO_DRDYB_DRIVER = 00 (DdybCase1模式)时、我确实在 SDO/DRDYB 引脚=低电平时完全读取 ADC_DOUT。
然后、如何使 SDO/DRDYB 引脚再次变为高电平以检测下一个可用的 ADC？
[18]在 SDO_DRDYB_DRIVER = 03 (DrdybCase2模式)时、我确实在 SDO/DRDYB 引脚=低电平时完全读取 ADC_DOUT。
然后、如何使 SDO/DRDYB 引脚再次变为高电平以检测下一个可用的 ADC？
ATFER 完成读取 ADC_DOUT、SDO/DRDYB 引脚自动变为高电平吗？
[19]对于数据传输，如何使设备进入数据优先模式？
表4表示单独使用 INST2字节设置，我可以进入数据优先模式并退出数据优先模式？
ATFER 完成读取 ADC_DOUT、SDO/DRDYB 引脚自动变为高电平吗？
[20]通过 PWRCH =待机模式、ADC 将被中止。 稍后，如果我设置 PWRCH =工作模式，IC 将自动恢复 ADC 转换？
或者，我必须写入 REST[0]= 1？
[21]在使用 ScanMode2运行 ADC 转换的过程中，是否可以通过发送 REST[0]= 0或1来停止和恢复 ADC？
如果没有，如何手动停止和恢复 ADC 转换？
[22]上电后、我发送所有必要的 ADC 寄存器初始化、例如 CH_SCAN/CHX_INPUTCN/CHX_CONFIG。
然后，我必须设置 REST[0]= 1才能运行 ADC 转换？
[23]例如，对于所有3个通道，使用3个 ODR = 107.325SPS 的单端通道，ODR 每通道将为35.775SPS (= 107.325/3)？
[24]每个通道的不同 ODR 设置情况如何？
例如，使用3个单端通道，对于 CH0，ODR = 107.325SPS，对于 CH1，ODR = 26.83125SPS，而对于 Ch2，ODR 为6.71SPS，那么每通道的 ODR 将是什么？
[25]每个通道的不同 ODR 设置情况如何？
例如，使用3个单端通道，对于 CH0，ODR = 107.325SPS；对于 CH1，ODR = 26.83125SPS；对于 Ch2，ODR 为107.325SPS；对于每通道，ODR 将是什么？
