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[参考译文] 关于:ADS1258:通道间噪声水平有所不同

Guru**** 2392095 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS1258

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1215664/re-ads1258-channel-to-channel-noise-levels-vary

主题中讨论的其他器件:ADS1258

尊敬的 Bob:

感谢您目前的帮助。

我想尽量记录这种行为、因为我在论坛的数据表中都找不到有关这方面的信息。

关于噪声、我在某些通道中观察到值在两个噪声级别之间波动。

触发被限制在6个最低有效位。

这可能是由于 CLK 和 SPI 是异步的吗?

我可以通过哪些 ADC 配置设置来尽量减少这种影响?

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    尊敬的 Konstantinos:

    主题发生了变化、所以我分离了线程。  我会将该帖子转发给更精通使用此器件的人。

    此致、

    Bob B

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    尊敬的 Konstantinos Vasiliou:

    如果时钟的异步特性导致了此问题、则没有可用于解决此问题的软件设置。

    您是否有办法可以从 SCLK 源(例如 MCU)生成系统时钟信号、从而激接到 ADC? 要确定的唯一方法是测试使用来自同一域的时钟是否对噪声有影响。

    当我在过去看到这个问题时、噪声会以幅值为+/-100uV 的尖峰出现(不使用增益、VREF = 2.5V、ODR = 125kSPS)。 这些尖峰在较低的数据速率下降低

    您实际上在该图中进行了哪些测量? 是否使用自动扫描模式对多个通道进行采样、并且它们的测量值相同?

    -Bryan

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    您好、Bryan:

    CLK 和 SCLK 是从 FPGA 生成的、目前很难从 SCLK 生成系统时钟、但我会考虑这是不是可行的。

    我使用自动扫描模式。 ADC 配置如下:

    CONFIG0 0x56
    CONFIG1 0x40
    MUXSCH 0x00
    MUXDIF   0x3F
    MUXSG0  0x00
    MUXSG1  0xF0
    SYSRED  0x00
    GPIOC      0x00
    GPIOD      0x00

    在该图中、有8000个 ADC 转换值(DIFF5)采样用于这些通道之一。

    每个通道都测量一个不同的值。

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    尊敬的  Konstantinos Vasiliou:

    感谢您提供一些背景信息。 您正在测量什么? 某种传感器、还是这些测试测量值、例如使用精密电源?

    另外、第一篇文章中的图中 y 轴上的标度是多少? 这个是 mV、UV 等吗?

    -Bryan

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    您好、Bryan

    我使用四线 RTD 和电压测量电性能。

    所有差分通道用于测量温度、而所有单端通道用于测量电压。

    示例图是在 y 轴中转换为温度的 ADC 值、以°C 为单位。

    在示例中、温度传感器替换为等效的1000欧姆电阻器、因此我认为所有测量都显示相同的结果。

    此致、

    Konstantinos

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    尊敬的  Konstantinos Vasiliou:

    您能否向我发送您用于绘制该图的原始 ADC 数据? 还请包括您使用的 VREF 电压和系统中可能具有的任何增益

    在这一点上、由于寄存器设置表明 CONFIG0中的位4 =1、您是否在 MUXOUT/ADCIN 引脚之间设置信号调节电路? 如果可以、您能否向我发送此电路的原理图捕获?

    您是否尝试过关闭斩波和/或使用 BYPA 选项来看看这是否有区别?

    -Bryan

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    您好、Bryan:

    这里是原始的 ADC 数据、准备就绪会解码到 NEW、OVF、SUPPLY 和 Chid。

    VREF 为3.3V。

    MUXOUT/ADCIN 之间有一个信号调节电路、其中包含每个 ADC 输入一个转角频率为106kHz 的一阶有源滤波器。

    我不确定是否可以分享原理图。 我需要问我的朋友关于这件事。

    此致、

    Konstantinos

    e2e.ti.com/.../ADC1_5F00_DATA.csv

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    尊敬的  Konstantinos Vasiliou:

    感谢您提供更多信息

    您是否尝试过关闭斩波和/或使用 BYPA 选项来看看这是否有区别? 这些应该是简单的固件更改、它们将帮助您了解有源滤波器是否导致了问题

    -Bryan

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    您好、Bryan:

    感谢您的反馈。

    我将尝试这两个选项、然后联系您。

    此致、

    Konstantinos

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    尊敬的  Konstantinos Vasiliou:

    谢谢、请告诉我们。

    -Bryan

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    您好、Bryan:

    我尝试了斩波打开/关闭和旁路打开/关闭。

    我看到不同配置之间的直流电平会发生变化。 这是预期结果吗?

    我附加了结果文件。

    板上有两个 ADS1258 ADC、总共采样21个通道。

    e2e.ti.com/.../BYPASS_5F00_CHOP_5F00_CSV_5F00_FILES.zip

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    尊敬的 Konstantinos  Vasiliou:

    感谢您发送文件。 不过、这有很多信息、您能用表格或图表来总结结果吗? 您看到不同模式之间有什么不同吗? 噪声是否消除过、或者它是否以任何有意义的方式改变过它?

    直流电平可能会在不同模式之间变化、尤其是在直流失调电压较大的情况下。 打开斩波应该会消除这种失调电压、如果滤波器产生较大的失调电压、旁路滤波器可能会改变直流电平。 直流电平变化了多少? 以及在什么条件下?

    -Bryan

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    [报价 userid="204916" url="~/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1215664/re-ads1258-channel-to-channel-noise-levels-vary/4606210 #4606210"]? [/报价]

    您好、Bryan:

    在 ADC1上关闭斩波也有一些不同。 噪声形状会有些变化。

    关闭旁路没有什么影响、但是我注意到直流电平发生了非常大的变化。

    在旁路打开和旁路关闭之间存在~13044个单元或~5mV 的差异。

    下面是所选通道的不同配置的一些图表。

    e2e.ti.com/.../ADC_5F00_DATA_5F00_SUMMARY.xlsx

    此致、

    Konstantinos

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    尊敬的 Konstantinos  Vasiliou:

    感谢您总结这些信息、它确实很有帮助。

    我在发送的12个图中注意到的一点是、ADC2、CH1具有看起来具有很高斯的噪声、这正是您所期望的。 您不会像对待 ADC1的 CH5和 CH6那样在输出中看到发生了漂移。  ADC2和 ADC1是否有任何不同之处可以解释这些不同的结果?

    您还可以尝试将输入短接在一起以仅测量 ADC 噪声。 为此、您可以为 AINP 和 AINN 选择相同的输入(在固定通道模式下)。 确保如果您的有源滤波器具有任何共模或输入电压限制、则将所选输入偏置到适当的电平。 通常、偏置到1/2 Vs 就足够了。 另外、请确保您的输入/传感器在进行此测试时断开连接。 获取几千个样本、如果您仍然看到输出的变化、那么我们可以假设异步时钟导致了这些问题。

    请告诉我

    -Bryan

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    您好、Bryan:

    两个 ADC 相同、但在电路板上测量的值不同。 唯一的区别在于布局。

    我在 ADC2中看到类似的行为、但在另一条通道上。

    我可以尝试短接 输入、但只能在自动扫描模式下进行测试、无法在固定通道模式下进行测量。

    此致、

    Konstantinos

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    尊敬的 Konstantinos  Vasiliou:

    您可能希望查看 ADC1和 ADC2的布局是否有任何显著差异、尤其是在时钟方面

    如果您无法启用固定通道模式、则必须在外部将输入短接、因为您无法在自动扫描模式下为 AINP 和 AINN 选择相同的输入。 您可以选择一个差分对、例如 AIN0-AIN1、然后在 PCB 的端子块将这两个输入短接在一起。

    -Bryan