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[参考译文] ADC3422:LVDS 接口的测试数据的 PRBS 发生器

Guru**** 2513455 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1235712/adc3422-prbs-generator-of-test-data-for-lvds-interface

器件型号:ADC3422

您好!

出于电路测试目的、我们会使用集成的 PRBS 发生器来测试样本数据、该操作可在寄存器0A 和0B 上启用。

我们需要了解 PRBS 发生器的详细信息、即其内部结构、 多项式 和种子。  

谢谢

安德烈亚

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    尊敬的 Andrea:

    我将联系我们的设计团队、看看我们可以提供哪些信息。

    此致、Amy

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    尊敬的 Andrea:

    以下是我从设计团队获得的反馈:

    ________________________________________________________________

     PRBS 序列从23位 LFSR 中抽头、多项式1+x^18+x^23。 这是生成 LFSR 的更新公式和种子

    更新公式–LFSR_NEXT =(LFSR << 1)|(LFSR [17]^ LFSR[22]);(<<表示1的左移、^表示 XOR 运算)

    SEED–2** 23–1 (即、所有位位置均为1)

    输出模式–LFSR[15:2](即、位位置15下至2被抽头并作为测试模式发送)

    请注意:

    1. 内部 LFSR 不同步复位。 因此、复位释放后的起始点可能会产生歧义、并可能会随下电上电/复位而变化。 对相位关系没有保证。
    2. 切换模式可能是"电路内测试"的更好选择、因为模糊性仅为1个时钟周期。

    我们建议您使用切换模式进行测试、由于相位模糊、PRBS 可能会很复杂。

    ________________________________________________________________

    此致、Amy

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    谢谢 Amy!