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器件型号：ADS1298 您好！
我尝试使用 ADS1298的内部测试信号来验证 ADS1298的上电功能、但使用方波内部测试信号时无法获得一致的振幅。 我们的设计能够无问题地测量正常(外部生成)信号。
关于其他论坛帖子(链接如下)、我认为这可能是因为 TESTP_PACE_OUT1和 TESTN_PACE_OUT2引脚 在我们的设计中连接到 AVDD (根据数据表中的建议、SBAS459K 修订版8月15、第10页)。 链接的论坛帖子建议这些引脚保持悬空、以便正确使用内部测试信号。 在此设计中、我们不使用外部驱动的 PACE 信号。 您能否告知 TESTn_PACE_OUT 引脚建议使用哪些引脚-它们应该连接到 AVDD 还是保持悬空？
下图显示了3个 ADS1298器件的21个通道、每个通道均配置为增益= 6的内部测试信号。 请注意方波的峰峰值电压不一致。
寄存器设置
/*用于初始化的 EEG 设置*/
ads_init_regs_confg_t eEG_c1_init_regs_config =｛
.ADS_REG_ID_DATA = 0x92、
.ADS_REG_CONFIG1_DATA = 0x65、//LP、多读回模式、启用振荡器时钟输出、数据速率：500Sps
.ADS_REG_CONFIG2_DATA = 0x10、//启用内部测试信号
.ADS_REG_LOFF_FLIP_DATA = 0x00、
.ADS_REG_PACE_DATA = 0x00、
.ADS_REG_RESP_DATA = 0x00、
}；
//---- 模式设置配置----------------------------------------------------- //
/*在导联脱落的情况下读取 EEG-Chip1 */
ads_op_regs_confg_t eEG_C1_op_read_without_lead_off_and_Z_measurement =｛
.ADS_REG_LOFF_DATA = 0xF3、
.ADS_REG_CONFIG4_DATA = 0x00、
.ADS_REG_LOFF_SENSP_DATA = 0x00、
.ADS_REG_LOFF_SENSN_DATA = 0x00、
.ADS_REG_CONFIG3_DATA = 0xC0、
.ADS_REG_RLD_SENSP_DATA = 0xFF、//选择所有正通道进行 RLD 检测
.ADS_REG_RLD_SENSN_DATA = 0xFF、//选择所有负通道进行 RLD 检测
.ADS_REG_GPIO_DATA = 0x43、// GPIO4：输出：0：并行 SW、GPIO3：输出：1：串联 SW、GPIO2：输入：0：N/A、GPIO1：输入：0：QC
.ADS_REG_CHnSET_DATA = 0x05、//通道多路复用器设置为测试信号
.ADS_NUMBER_OF_ON_CHANNELS = 8、
}；
感谢您的帮助
此致
里德
